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SG-A

CMOS图像传感器测试仪

快速安装和快速部署可以帮助您加快上市时间。

  SG-A系统是世界上第一个商用CMOS图像传感器测试仪。SG-A可以提供最全面的CMOS图像传感器参数表征,如全光谱量子效率QE、整体系统增益K、时间性暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、DSNU、PRNU、线性误差和首席射线角CRA。被测设备可以是几种类型的CMOS图像传感器模块。检验程序符合EMVA 1288标准。因此,SG-A CMOS图像传感器测试仪可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS图像传感器测试仪的高度准直光束(<1°)可以克服传统光学系统(如积分球系统)无法解决的新制造工艺的检测困难。这些工艺包括小像素(< 1 um)、BSI和3D堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计等等。

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Contents

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我们的专业团队将为您提供帮助!

我们根据您的需求提供定制解决方案,并将传感技术集成到您的产品、产品应用和 OEM 解决方案中。

告诉我们更多,我们会启发您的想法。

特色

  • 无损光学检测。

  • 高度准直梁角 /高准直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,9<3度 (不同型号)

  • 高均匀光束点:≥ 99%。

  • 光的不稳定性≤1%。
  • 高动态范围测试能力:80dB~140dB(不同型号)。
  • 可以测试CMOS图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流/噪声、信噪比、饱和容量、线性误差(LE)、DCNU(暗电流不均匀性)、PRNU(光响应不均匀性)、CRA(首席射线角)。
  • 全光谱波长范围:300nm-1100nm或350nm~1000nm(PTC)。
  • 波长可扩展至1700纳米以上。
  • DUT 封装:CIS 模块,PCB 板级,CIS 摄像头,有/无微透镜。

  • SG-A和DUT之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。
  • 定制的测试夹具和平台(手动或自动,最多6轴)。
  • 强大的分析软件ARGUS®。
  • 应用:指纹识别(CIS+镜头,CIS+准直器,TFT阵列传感器)CIS的微透镜设计,晶圆级光学检测,CIS DSP芯片算法开发,Si TFT传感器面板,飞行时间相机传感器,接近传感器(量子效率,灵敏度,线性度,SNR等),d-ToF传感器,i-ToF传感器,多光谱传感器,环境光传感器(ALS),指纹显示(FoD)传感器。

系统设计

CMOS image sensor tester system design

规格

SG-A型CMOS图像传感器测试仪的功能非常强大,因此相关的规格和配件也非常齐全。请与我们联系,以了解更多细节和选择咨询。

以下是主要的能力规格:

– 全光谱的波长范围:300-1100纳米或350-1000纳米(PTC)。
– 波长范围可以扩展到1700纳米或更高。
– 单一波长源。470纳米,530纳米,630纳米,940纳米(±5纳米),或自定义
– 动态范围:80dB、100dB或140dB
– 测试夹具:DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制
– 平台。非,手动3轴,或6轴(手动+自动)平台(可定制

应用范围

  • 指纹识别(CIS+镜头,CIS+准直器,TFT-阵列传感器)
  • CIS的微透镜设计,晶圆级光学检查
  • CIS DSP 芯片的算法开发
  • Si TFT 传感器面板
  • 飞行时间相机传感器
  • 近距离感应器 (量子效率、灵敏度、线性度、SNR等。)
  • d-ToF传感器,i-ToF传感器
  • 多光谱传感器
  • 环境光传感器 (ALS)
  • 指纹显示(FoD)传感器

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