SG-A
CMOS图像传感器测试仪
快速安装和快速部署可以帮助您加快上市时间。
SG-A系统是世界上第一个商用CMOS图像传感器测试仪。SG-A可以提供最全面的CMOS图像传感器参数表征，如全光谱量子效率QE、整体系统增益K、时间性暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、DSNU、PRNU、线性误差和首席射线角CRA。被测设备可以是几种类型的CMOS图像传感器模块。检验程序符合EMVA 1288标准。因此，SG-A CMOS图像传感器测试仪可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS图像传感器测试仪的高度准直光束（<1°）可以克服传统光学系统（如积分球系统）无法解决的新制造工艺的检测困难。这些工艺包括小像素（< 1 um）、BSI和3D堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计等等。
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特色
无损光学检测。
高度准直梁角 /高准直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,9<3度 (不同型号)
高均匀光束点：≥ 99%。
- 光的不稳定性≤1%。
- 高动态范围测试能力：80dB~140dB（不同型号）。
- 可以测试CMOS图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流/噪声、信噪比、饱和容量、线性误差（LE）、DCNU（暗电流不均匀性）、PRNU（光响应不均匀性）、CRA（首席射线角）。
- 全光谱波长范围:300nm-1100nm或350nm~1000nm（PTC）。
- 波长可扩展至1700纳米以上。
DUT 封装：CIS 模块，PCB 板级，CIS 摄像头，有/无微透镜。
- SG-A和DUT之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。
- 定制的测试夹具和平台（手动或自动，最多6轴）。
- 强大的分析软件ARGUS®。
- 应用：指纹识别（CIS+镜头，CIS+准直器，TFT阵列传感器）CIS的微透镜设计，晶圆级光学检测，CIS DSP芯片算法开发，Si TFT传感器面板，飞行时间相机传感器，接近传感器（量子效率，灵敏度，线性度，SNR等），d-ToF传感器，i-ToF传感器，多光谱传感器，环境光传感器（ALS），指纹显示（FoD）传感器。
系统设计
规格
SG-A型CMOS图像传感器测试仪的功能非常强大，因此相关的规格和配件也非常齐全。请与我们联系，以了解更多细节和选择咨询。
以下是主要的能力规格:
– 全光谱的波长范围:300-1100纳米或350-1000纳米（PTC）。
– 波长范围可以扩展到1700纳米或更高。
– 单一波长源。470纳米，530纳米，630纳米，940纳米（±5纳米），或自定义
– 动态范围：80dB、100dB或140dB
– 测试夹具:DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制
– 平台。非，手动3轴，或6轴（手动+自动）平台（可定制
应用范围
- 指纹识别（CIS+镜头，CIS+准直器，TFT-阵列传感器)
- CIS的微透镜设计，晶圆级光学检查
- CIS DSP 芯片的算法开发
- Si TFT 传感器面板
- 飞行时间相机传感器
- 近距离感应器 (量子效率、灵敏度、线性度、SNR等。)
- d-ToF传感器，i-ToF传感器
- 多光谱传感器
- 环境光传感器 (ALS)
- 指纹显示（FoD）传感器