Previous
Next

Tell us more, we’ll 

Enlighten Your Ideas!

PD-QE 新型光电传感器特性分析仪

新世代光电探测器 (PD) 的完整解决方案

传统的量子效率系统在新型光电探测器面临许多测试方法挑战。如:

  1. 偏置电压无法超过 12V:传统量子效率系统使用锁相放大器,其承受直流电压无法过大,因此在一般的量子效率测试仪,电偏压无法施加超过 12V。
  2. 无法做噪声频率分析。
  3. 无法直接测得 NEP 与 D*。

光焱科技针对新世代的光电探测器 (PD) 提供了完整解决方案~命名为 PD-QE。

Photodetector Quantum Efficiency
目录

我们将根据您的需求提供定制解决方案,并将传感技术集成到您的产品、产品应用和 OEM 解决方案中。告诉我们更多,我们会启发您的想法。

特色

PD-QE 系统是光焱科技在过去十年的小光斑 (power mode) 基础上,进化开发完成。

  • 可应用在 PV 的 EQE 量子效率测试、新型光传感器的研究。
  • 在全新的软件平台 SW-XQE 上,具有便捷的扩展性:可测试标准 EQE 外,更可整合多种 SMU 的控制,并量测IV曲线。同时具备各种分析功能,如 D*、NEP、频率噪声图。

规格

  • PD-QE 有不同的模块,偏置电压也可由 20 V 到 1000 V。同时,可测量高分辨率的光电流,分辨率最高可达 10-16 A。
  • 波长扩充可达 1800 nm。
  • 可选配软件升级控制 Kiethley 4200 SMU。

应用

  • 有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)
  • 钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)
  • 量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)
  • 新型材料光传感器

实证

Photodetector photodiode NEP
Photodetector photodiode Detectivity

PD-QE 可直接针对器进进行频率噪声的测量与作图。

Photodetector photodiode EQE 300nm 1800nm

  PD-QE 可以进行 EQE 光谱测试。除了标准的 300nm ~ 1100nm 波段,PD-QE 可扩展到 1800nm。图中显示不同波长响应器件,在 PD-QE 系统下,测的 EQE 量子效率光谱。

Photodetector photodiode Dark IV SMU

  PD-QE 已整合 Keithley 与 Keysight 出产的多种 SMU,进行多种的 IV 曲线扫描。用户无需另外寻找或是自行整合 IV 曲线测试。图中显示 PD-QE 测试不同样品的 IV 曲线,并进行多图显示。

Photodetector photodiode Noise Current Frequency Spectrum

  PD-QE 凭借先进数字讯号采集与处理技术,直接可测试各种探测器在不同频率下的噪声电流图。用户无需在额外购买、整合频谱分析仪进行测种测试!并且软件可以进行多种频段的特性分析,如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是针对新世代 PD 测试的完整解决方案。

Leave a Reply

Scroll to Top
PD-QE Inquiry
Join Our Newsletter
Subscribe now to Enlitech Light Simulator and Quantum Efficiency newsletter.