Enlitech将出席 2025 Semicon Taiwan 国际半导体展

Enlitech将于 2025 年 9 月 10–12 日 出席在 台北南港展览馆 举办的 2025 Semicon Taiwan 国际半导体展。

作为亚洲备受瞩目的半导体产业盛会，Semicon Taiwan 聚焦于芯片制程、材料创新、先进封装、光电传感与应用，吸引全球芯片制造商、研究机构与产业专家共同参与。

Enlitech展示最新半导体光学检测解决方案

秉持“Optical Testing — The Standard for High-Speed Chips 光学测试，为高速芯片定义真实性能”的核心理念，光焱科技 (Enlitech) 专注于开发先进的半导体光学测试设备，协助研究人员与工程师精准掌握 高速芯片与光电传感器 的性能。

在本次展会，Enlitech将分享以下设备：

• SPD2200：商用级 SPAD 单光子雪崩二极管效率整合型测试仪
• APD-QE：先进光传感器量子效率光学测试仪
• SG-A：CMOS 图像传感器测试仪

这些检测解决方案广泛应用于高速芯片、光子学、光电传感器 的效能验证与突破研究。

诚挚邀请您参观Enlitech展位 I2507

在 2025 Semicon Taiwan，光焱科技 (Enlitech) 将由专业团队于现场提供技术解说，协助您深入了解光学测试在半导体与光电领域的应用价值。

我们诚挚邀请您莅临 I2507 展位，与我们交流半导体光学检测的未来！