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因此，我们可以获得光电组件光电转换过程的重要参数。 这些参数包括：响应时间、上升/下降时间、线性动态范围（LDR）、瞬时光电压 （TPV）、瞬时光电流 （TPC） 等。 它用于了解光电元件的内部结构/组成与载子动力学之间的关系。 这些信息可以作为评估光电组件特性和性能改进的参考。
特点
- 光强线性度检查与分析
- 频率响应检查 0~40MHz
- 可选激光模块系统波长
- 激光光调变控制
- 截止频率 （Cut Frequency） 计算分析
- Rise/ Fall time检查与分析
- TPC/TPV 检查与分析
- 高动态光强变化光学调变模组，可自动调变强度9个光学量级变化
光焱科技Enlitech 的专家团队拥有丰富的实验室经验和技术知识，能够在线上或现场指导客户进行精密测试。 例如，通过对噪声电流频率图的详细分析，Enlitech 帮助客户识别潜在的测试误差，优化测试参数，从而提升测试的精确度与再现性。
Enlitech 深知，在光电领域中，精确测试对产品开发和质量控制至关重要。 客户在面对如噪声电流频率、量子效率（EQE）、探测度（D*）及噪声等效功率（NEP）等测试时，常常因仪器调校复杂、数据不稳定而感到困惑。 针对这些痛点，Enlitech提供了全面的解决方案。
EQE 和 D* 等指标直接影响光电探测器的灵敏度和性能，这在半导体、通讯及航空航天等高科技领域尤为重要。 准确的测试数据不仅能够帮助客户提升产品质量，还能降低产品开发周期，节省成本。
Enlitech
We Make Sensors Better.
实证
Cs2Pb（SCN）2Br2 单晶光电器件性能表征
2021年 Advanced Materials 期刊报道了第一种无机阳离子拟卤化物二维相钙钛矿单晶Cs2Pb（SCN）2Br2。 作者使用PD-RS系统对单晶光电器件进行多种的光电转换回应行为进行检查与分析。 其中包含：
- 变光强IV曲线测试
- 变光强光电流与响应度变化测试
- 定电压下光电转换爬升与下降时间测试
- 恒定光强脉冲光的时间相关光电流回应测试
- TPC/TPV 瞬态光电流/光电压测试
恒定光强脉冲光的光电流时间响应
PD-RS 系统具备高速调制能力的激光器 （爬升/下降时间< 5ns），在恒定光强脉冲光条件下，可以对器件进行光电流时间响应测试，并且分析光电器件的爬升/下降时间的分析，以了解光电器件最快的时间响应极限特征。
变光强光电流和响应度变化测试（ LDR）
PD-RS 具备 120 dB 光强动态范围测试能力。 在软件自动化的测试光电流的变化，绘制出待测器件的线性动态范围响应图 （LDR， Linearity Dynamic Range）。 LDR 试评估光电器件特性的一项重要指标。 由光电流与光强的测试可以得到响应度（mA/W）变化，是常用于表征光电器件优劣的参数。
-3 dB 频率响应测试
PD-RS 具备高速调制能力的激光器。 系统可自动调变输出光束的调制频率，并进行光电流的侦测，同时绘制频率响应图并分析-3 dB 频率特性。 -3 dB 点指的是当光源调制频率上升，器件回应跟不上光源的开关变化，出现回应光电流随之下降的情况，达到 -3 dB 的强度时，作为标记性能的频率。
TPC/TPV 瞬态光电流/光电压测试
TPC/TPV 是一种常用于薄膜光电器件的检查技术，可以研究器件中的载流子传输与复合的物理行为。 PD-RS 的光源具备高速的爬升与下降时间 （< 5 ns），可以进行瞬态光电流 （TPC） 与瞬态光电压 （TPV） 的测试。
规格
| Model | Wavelength |
|---|---|
| RS-405 | 405 nm |
| RS-633 | 633 nm |
| RS-520 | 520 nm |
| RS-980 | 980 nm |
系统设计
应用
- 有机光传感器 （OPD， Organic Photodiode）
- 钙钛矿光传感器 （PPD， Perovskite Photodiode）
- 量子点光传感器（QDPD， Quantum Dots Photodiode）
- 新一代光电二极管
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