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SG-A 可提供最全面的CMOS图像传感器参数量测分析，例如全光谱量子效率（QE）、整体系统增益（K）、时间暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、暗讯号非均匀性 （DSNU）、光响应非均匀性 （PRNU）、线性误差和主光线角度 （CRA）。
待测元件可以是多种类型的 CMOS 影像感测器模块。 检测程序符合EMVA 1288标准。
因此，SG-A CMOS影像传感器测试仪可用于进行晶圆级光学检查、工艺参数控制、微透镜设计、微透镜验证。 SG-A CMOS 影像传感器测试仪的高准直光束 （< 1°） 可以克服传统光学系统（如积分球系统）无法解决的新制造工艺的检测难题。
这些制成包括小像素（< 1微米）、BSI和3D堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计等。
特征
- 无损光学检测
- 高准直光束角度; <0.05°、 <0.1°、 <0.5°、 <1°、 <3°（不同型号）。
- 高均匀光斑：≥ 99%。
- 光源不稳定度≤1%。
- 高动态范围测试能力：80dB~140dB（不同型号）。
- 可测试 CMOS 图像传感器参数：量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流/噪声、讯噪比、饱和容量、线性误差 （LE）、暗电流非均匀性 （DCNU）、光响应非均匀性 （PRNU）、主光线角度 （CRA）。
- 全光谱波长范围：300nm-1100nm 或 350nm~1000nm（依型号而定）。
- 波长可扩展至1700nm或更长。
- 待测元件封装：CIS 模组、PCB 板级、CIS 相机，含/不含微透镜。
- SG-A 与待测元件之间可透过「直接通讯」或「握手通讯」进行数据交换。
- 客制化测试夹具和平台（手动或自动，最多 6 轴）。
- 功能强大的分析软件ARGUS®。
- 应用：指纹辨识（CIS+镜头、CIS+准直器、TFT阵列感测器）、CIS微透镜设计、晶圆级光学检测、CIS DSP芯片算法开发、硅基TFT感测器面板、飞行时间相机感测器、近接感测器（量子效率、灵敏度、线性度、讯噪比等）、d-ToF 感测器、i-ToF 感测器、多光谱感测器、环境光感测器 （ALS）、屏幕下指纹识别 （FoD） 感测器。
隆重推出 SG-A：革新 CIS 光学测试的利器，全面提升效能
SG-A 采用模块化和集成设计，提供诸多优势，可节省宝贵时间并降低试错成本。 对于半导体工程师而言，这种设计方法提供了无与伦比的灵活性和定制能力，能够快速识别和解决生产问题。 此外，这种设计方法最大程度地降低了制造过程中的风险和不确定性，进而提升效率和产品质量。
模块化和集成设计由于其可定制的特性，让客户能够更快地将产品推向市场，可以根据客户的特定需求和要求快速进行调整和改进。 这种能力显著降低了客户的研发成本和时间，使他们能够更快地将定制产品推向市场，进而提升其市场竞争力。
SG-A 不仅符合 EMVA1288 等国际标准，还符合 ISO 17025 标准，可进行整体系统校正。 这确保了测试结果可追溯至国际 SI（国际单位制）基本单位，实现国际间的比对。 这为我们尊贵的客户提供了无与伦比的可靠性和稳定性。
SG-A 能够对不同制造阶段的 CIS（互补式金属氧化物半导体）产品，包括晶圆、芯片和模块，进行全面的评估和分析。 这种先进的光学检测方法为半导体工程师提供了一种高效且精确的测试方法。 它不仅允许在不损坏产品的情况下进行测试，还能深入了解CIS产品的性能，促进质量的提升。
此外，光学检测技术具有高产能、可靠性和效率等多项优势，为CIS产品制造的每个阶段提供重要的测试支持。
SG-A 搭配功能强大的分析软件ARGUS®，为您提供CIS图像传感器性能参数的全面测试能力，让您能够探索全光谱量子效率，并研究传感器在不同波长下的响应。 这种全面的理解使您能够优化传感器的性能，确保最佳的灵敏度并捕捉令人惊叹的图像。
SG-A 和 ARGUS® 的另一个优势是光谱响应分析。 您可以评估传感器对不同波长的响应，从而优化其在特定光照条件和应用中的效能。 这种优化可以实现无与伦比的色彩准确度和逼真度。
系统增益评估对于获得高品质影像和最小化噪声至关重要。 SG-A 和 ARGUS® 可以精确测量和分析传感器的增益特性，使您能够提升图像质量，尤其是在低光照环境下，获得更清晰、更生动的图像。
SG-A 和 ARGUS® 提供的灵敏度分析让您能够评估传感器捕捉精细细节和光强度变化的能力。 透过优化灵敏度，您可以突破影像质量的极限，确保每张照片都具有出色的清晰度和分辨率。
动态范围评估对于捕捉亮度变化很大的场景至关重要。 SG-A 和 ARGUS® 使您能够分析传感器的动态范围能力，确保在亮部和暗部区域都能保留细节。 这种优化可让您的图像拥有出色的色调范围和均衡的曝光。
暗噪声评估对于减少低光照条件下不必要的噪声和影像伪影至关重要。 SG-A 和 ARGUS® 提供详细的暗噪声分析，使您能够优化降噪算法，即使在具有挑战性的光照条件下也能获得清晰、无噪声的图像。
SG-A 和 ARGUS® 提供的信噪比 （SNR） 分析让您能够通过量化所需信号与不需要的噪声之间的比率来评估图像质量。 藉由最大化信噪比，您可以获得清晰的图像、减少噪声伪影并提升整体影像逼真度。
饱和容量分析对于了解传感器捕捉和再现极限色彩的能力至关重要。 透过 SG-A 和 ARGUS®，您可以评估感测器的饱和容量，确保即使在最具挑战性的光照条件下也能呈现生动逼真的色彩。
线性误差 （LE） 评估有助于了解传感器对线性增加的光强度的响应准确性。 透过分析和最小化线性误差，您可以实现一致且准确的曝光，确保以精确的色彩渐变忠实地再现场景。
SG-A 和 ARGUS® 也支持暗电流非均匀性 （DCNU） 和光响应非均匀性 （PRNU） 的评估。 这些分析提供了对传感器均匀性的洞察，使您能够识别和减轻任何非均匀性问题，从而实现更一致和可靠的效能。
此外，SG-A 还可以测量主光线角度 （CRA），它决定了主光线进入传感器的角度。 透过精确评估 CRA，您可以确保最佳的光线收集，大幅提升影像清晰度和品质。
SG-A 和ARGUS®为测试和分析CIS影像传感器提供全面的解决方案，提供宝贵的数据和洞察，以提升产品性能并实现卓越的影像质量。 拥抱这项尖端技术，让SG-A和ARGUS®推动您的CIS传感器生产更上一层楼。
规格
SG-A CMOS 图像传感器测试仪功能强大，因此相关规格和配件非常齐全。 如需更多详细信息和选购咨询，请联系我们。
以下为主要功能规格：
– 全光谱波长范围：300-1100nm 或 350-1000nm （PTC）
– 波长范围可扩展至 1700nm 或更高。
– 单一波长光源：470nm、530nm、630nm、940nm （±5nm） 或定制
– 动态范围：80dB、100dB 或 140dB
– 测试夹具：DUT≤ 100mm x 100mm x 30mm（高）[Basic type] 或定制
– 平台：非、手动 3 轴或 6 轴（手动 + 自动）平台（可定制）
系统设计
CMOS Image Sensor (CIS) Testing
SG-A 系统采用优异的光学系统设计，利用非破坏性光学调变技术将数字影像讯号反向转译为模拟信号特性。 它能够测量各种参数，例如量子效率、光谱响应、系统增益、动态范围、暗电流噪声、信噪比、饱和容量、线性误差 （LE）、暗电流非均匀性 （DNU）、光响应非均匀性 （PRNU） 和主光线角度 （CRA）。
测试数据如下：
TFT 图像模块开发和验证 （FoD）
随着全屏智能手机设计成为主流，光学屏幕下指纹识别也获得了市场的高度关注。 其中，TFT 屏幕下图像识别模块的开发成为显示器制造商和显示驱动芯片开发商激烈竞争的领域。 SG-A 采用非破坏性光学检测技术，无需破坏性样品制备，即可快速检测TFT影像模组的各种关键参数，例如全光谱量子效率测试。 这加速了整体产品设计和验证流程。
应用
| Application | |
|---|---|
| Fingerprint recognition (CIS+Lens, CIS+collimator, TFT-array sensor) | Micro-lens design of CIS, wafer level optics inspection |
| CIS DSP chip algorithm development | Si TFT sensor panel |
| Time-of-Flight camera sensor | Proximity Sensor (Quantum efficiency, sensitivity, linearity, SNR et al.,) |
| d-ToF sensor, i-ToF sensor | Multi-spectral sensor |
| Ambient light sensor (ALS) | Fingerprint-Under-Display (FoD) sensor |
可测试 CMOS 影像传感器参数
| Can test CMOS image sensor parameters | |
|---|---|
| Quantum efficiency | Spatial nonuniformity (DSNU, PRNU) |
| Overall system gain | Linearity error |
| Temporal dark noise | CRA |
| Signal-to–noise ratio | Saturation capacity |
| Absolute sensitivity threshold | Dynamic range |
客户实证
应用文献
选配
| Optional | |
|---|---|
| Camera Sample Stage | ●Calibration/Test Manual Adjustment Switch ●Adjustment Precision: 10 μm ●Compatible with Maximum Sample Size: 80 mm x 80 mm x 45 mm (thickness) ●Maximum Load Capacity: 5 kg |
| Automated CRA Testing Module | ●CRA Testing Software ●Maximum Sample Size: 80 mm x 80 mm x 45 mm (thickness) Load Capacity: 3 kg ●Computer-Controlled Rotating Sample Stage ●Rotation Angle Range: ±80 ●Degrees Rotation Resolution: 0.01 degrees ●Automatic XY Axis Displacement Control ●Calibration/Test Position Fast Positioning Switch Displacement ●Distance: ±50 mm Displacement ●Precision: 2 μm Z-Axis ●Displacement Control (Manual Control) ●Displacement Distance: ±6 mm ●Displacement Precision: 10 μm |
| Darkroom | Dimensions: 1000 mm x 900 mm x 1400 mm (with 10% clearance space) |
| Full-Wavelength High Dynamic Range Light Intensity Variation Function | ●Automatic Linear Light Intensity Adjuster ●Continuous Fine Adjustment of Light Intensity ●Light Intensity Control Range: 0-100% ●Scanning Accuracy: 0.1% Repeatability Accuracy: Better than 3% ●Automatic Control |
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