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探索 Enlitech SLX-P 3070 的尖端功能，这款最先进的照明器专为先进 CMOS 传感器开发而设计。
SLX-P 3070 拥有超过 140dB 的宽动态范围和仅 1 度的精准准直光束，为半导体测试提供了高精度的光源解决方案。
它能够进行极低光照测试，是评估传感器在最低光照条件下性能的理想选择。
这款结构紧凑、方便携带的照明器在各种应用中表现出色，例如 CP 和 FT 测试中的参数测试和质量检测，可有效测量量子效率、整体系统增益、CRA、PDAF 和 HDR 等参数。 无论您从事研发还是质量控管，SLX-P 3070 都是您的完美伙伴，可在各种照明情境下提供准确可靠的结果。
特征
宽动态范围，成就高精度传感器测试
SLX-P 3070 专为支持高动态范围成像而设计，可达到 140 dB 以上。 这款照明器能够处理从 0.01 lux 到超过 100,000 lux 的极端照明条件，是高端 CIS 测试的理想选择，确保在极低光和极高光场景下都能捕捉到精细的图像。
模拟不同的照明条件
这款照明器可以模拟从星光到明亮日光等各种照明条件，让您能够在所有情况下进行全面的传感器测试。
适用于精确 PDAF 测试的准直光束，确保测试结果精准可靠
SLX-P 3070 拥有高度准直的光束，发散角仅 1 度，可提供精准聚焦的光线，非常适合进行精确的 PDAF 测试，确保光电二极管精准对焦，达到最佳性能。
精确的光线控制，确保准确的结果
我们的照明器发散角仅 1 度，可确保光线均匀分布，提供一致的测试结果。 这种精确度对于需要精确光线设置以模拟真实世界条件的应用来说非常重要，尤其是在每一个照度都举足轻重的参数测试中。
小巧精悍，方便携带，用途广泛
SLX-P 3070 采用精巧便携的设计，无论是在实验室还是在现场测试，都能展现高度的灵活性，适用于各种测试环境。
三段式亮度调整，满足多元测试需求
- 高亮度模式：900 至 1500 照度 （lux），可精细调整至 5 照度 （lux） 以下，适用于高亮度环境。
- 中等亮度模式：提供 30 至 900 照度 （lux） 的范围，步进值小于 2 照度 （lux），适用于标准测试环境。
- 低亮度模式：0 至 30 照度 （lux），具备 0.1 照度 （lux） 以下的超精细调整功能，适用于低光照环境下的测试。
规格
| Specification | |
|---|---|
| Light Parallelism | Divergence angle of 1° |
| Uniformity light Area | 30 mm x 30 mm ＞90% |
| Color Temperature | 4850K ~ 5500K |
| High Intensity | 900 ~ 1500 Lux Step：< 5 Lux |
| Median Intensity | 30 ~ 900 Lux Step：< 2 Lux |
| Low Intensity | 0 ~ 30 Lux Step：< 0.1 Lux |
| Dimension | 228mm*145mm*173mm |
| Weight | 1.9kg |
系统设计
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应用
Enlitech 新开发的 SPD2200 是一款领先的单光子探测器 (SPD) 商业级表征系统。
它可用于测试和分析单光子雪崩二极管（SPAD）的特性，SPAD是LiDAR（光检测和测距）的关键元件。 该SPD2200满足客户在 toF 模块开发过程中测量各种参数的需求。
SPD2200 有两个模块：（1） 光谱表征模块 （SDTM） 和 （2） 时域表征模块 （TDTM）。 客户可以选择为不同的测量场景购买任一模块，也可以同时使用这两个模块进行全面的表征。
客户实证
SDTM、TDTM 表征模块
（1） SDTM 光谱表征模块 – 设备规格
| SDTM Spectral Characterization Module – Equipment Specifications | |
|---|---|
| Continuous wave light source | 1.Stable light source system (xenon lamp) 2.Monochromator: 350-1100 nm, resolution 1nm, typical FWHM 10 nm; accuracy 0.6nm 3.Fiber coupling and optical diffuser: 5×5 mm or 10×10 mm beam, uniformity >99% at 25 mm working distance. (with 50 mm x 50 mm illumination spot) |
| Light source and beam delivery system | 1.Ultra-uniform silicon photodiode sensor, 10mm x 10mm active area, optically aged to eliminate instability 2.Wavelength range 350-1100nm, peak responsivity at 960nm 3.Traceable, certified calibration report to NIST (ISO 17025 certified, compliant to Spec 1) 4.Noise equivalent power of 1.5 x 10-14 W/√Hz |
| Source stage | 1.Device biasing and measurement 2.Voltage range: > 200V 3.Current range: 1.5A max. 4.Minimum resolution: 100 nV, 10 fA |
| Photon detector | 1.Resolution: 100 ps 2.Count rate: > 300 MHz 3.Input voltage range: ± 5V |
| Measurable parameters | 1.Photon detection probability over spectrum 2.Dark counts 3.External quantum efficiency over spectrum 4.Breakdown voltage 5.Spectral responsivity over spectrum |
（2） TDTM 时域表征模块
| TDTM Time Domain Characterization Module | |
|---|---|
| PS Laser | 1.Wavelength 940 nm 2.FWHM <90 ps 3.MAX rep. rate: 80 MHz (adjustable) |
| T-counter | 1.Detection Channel: 4 Chs 2.BIN Resolution: 5 ps 3.Time-tagging and time-resolved modes |
| Measurable Parameters | 1.Jitter 2.Diffusion Tail 3.Signal-to-Noise Ratio |
| controller | ●Industrial Computer ●Screen ●Keyboard and Mouse |
|---|
出版
选购配件
| Optional items | |
|---|---|
| Probe station | 1.Three styles: fully automatic / semi-automatic / manual 2.Suitable for wafer level sample measurement 3.Please contact us |
| Customized test fixture | 1.Suitable for module type sample measurement 2.Please contact us |
| Custom camera obscura | 1.The camera obscura has a noise shielding function 2.Please contact us |
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