Enlitech-SLX-P 3070
SLX-P-Large area -en
SLX-P-Large area-2-en
SLX-P-Large area-3-en

SLX-P 大面积光源

NT$100

为 Adventest T2000 超低且高稳定性的照明器而设计

SLX-P大面积光源模块具有160 mm×160 mm的坚固均匀光区域和超过95%的均匀性，可确保在最佳条件下进行每次测试，从而减少可变性并提高结果的准确性。 其快速调整功能可在不到 200 毫秒的时间内实现光源更换，有助于加快测试工作流程，而且更能适应现代半导体开发的动态需求。

×

SLX-P 大面积光源 Inquiry






    分类：

    描述

    描述

    规格

    联络我们

    应用

    表征模块

    选配

    客户装机

    相关文献

    描述

    专为 adventest T2000 超低且高稳定性的照明器而设计

    在半导体测试的严苛领域中，精确度和可靠性是核心要素，而Enlitech SLX-P大面积光源在此领域脱颖而出。
    这款光源专为与Advantest T2000 测试系统无缝兼容而设计，为满足产业严格标准而量身打造的先进照明技术。

    这款高性能照明器可提供超低和高度稳定的照明条件，是对一致性要求极高的精密光度分析的理想选择。

    可定制的 SLX-P 大面积测试仪可满足您的各种测试需求，从调整光斑大小到调整光强度，均可根据您的具体要求进行定制。
    其快速调整功能可在不到 200 毫秒的时间内完成光源更换，从而促进了测试工作流程，不仅速度更快，而且更能适应现代半导体开发的动态需求。

    SLX-P 大面积测试仪具有 160 毫米 × 160 毫米的大面积均匀光区和超过 95% 的均匀度，可确保每次测试都在最佳条件下进行，从而降低变异性并提高结果的准确性。

    Enlitech 的 SLX-P 大面积光源带您进入测试效率和可靠性的新纪元。 欢迎莅临我们的网站，获取更多信息。

    特点

    专为 Adventest T2000 测试机台整合而特别设计的检测光源

    SLX-P 大面积光源专为与 Adventest T2000 测试系统无缝整合而精心设计，作为满足这些精密设备严格要求的专用光源。
    这种特殊设计确保了光源与 T2000 的完美互补，以其精确性和效率提升了测试设置。

    适用于高灵敏度应用的超低亮度

    SLX-P 大面积光源具备独特的超低亮度输出能力，这对于需要最小化光照，以防止传感器在测试过程中饱和或损坏的应用来说必不可少。 此功能在半导体测试中尤其重要，因为只有精确控制光强度，才能维持敏感元件的完整性并确保测量的准确性。

    高稳定性，确保一致和准确的测试结果

    SLX-P 大面积光源以高稳定性为设计目标，可在整个测试过程中提供一致的光输出，确保测试结果准确可靠。
    这种稳定性对于维持测试的完整性不可或缺，尤其是在需要精确光度分析的应用中。

    可客制化选项，提升使用弹性

    SLX-P 大面积光源提供可定制的选项，例如可调节的光斑尺寸，以满足客户的特定需求。
    这种灵活性让用户能够根据自身测试需求调整光照条件，为其操作增添显著价值。

    快速光源调整

    SLX-P 大面积测量仪的光源调整时间小于 200 毫秒，可以快速适应变化，支持更快、更高效的测试方案。

    大均匀光斑

    SLX-P大面积具有160毫米×160毫米的超大均匀光区域，均匀度超过95%，非常适合需要广泛和均匀照明的应用。

    规格

    Wavelength905 nm±+ 5 nm
    FWHM13-15 nm
    Full Width at Half Maximum (FWHM)＜45nm
    Light parallelismDivergence angle of 1°
    Light intensity0 ~ > 15-20 uW/cm2
    Uniformity light Area160mm × 160mm＞95%
    Light source adjustment time<200 ms

    系统设计

    联络我们






      应用

      The newly developed SPD2200 by Enlitech is the world’s first commercial-grade characterization system for single photon detectors (SPDs).

      It can be used to test and analyze the characteristics of single photon avalanche diodes (SPADs), a key component in LiDARs (Light Detection and Ranging). The SPD2200 meets customers’ needs for measuring various parameters during the development of dToF modules.

      The SPD2200 has two modules: (1) Spectral Characterization Module (SDTM) and (2) Time Domain Characterization Module (TDTM). Customers can choose to purchase either module for different measurement scenarios, or use both modules together for comprehensive characterization.

      Customer Testimonials

      SDTM、TDTM Characterization Module

      (1) SDTM Spectral Characterization Module – Equipment Specifications

      SDTM Spectral Characterization Module – Equipment Specifications
      Continuous wave light source1.Stable light source system (xenon lamp)
      2.Monochromator: 350-1100 nm, resolution 1nm, typical FWHM 10 nm; accuracy 0.6nm
      3.Fiber coupling and optical diffuser: 5×5 mm or 10×10 mm beam, uniformity >99% at 25 mm working distance. (with 50 mm x 50 mm illumination spot)
      Light source and beam delivery system1.Ultra-uniform silicon photodiode sensor, 10mm x 10mm active area, optically aged to eliminate instability
      2.Wavelength range 350-1100nm, peak responsivity at 960nm
      3.Traceable, certified calibration report to NIST (ISO 17025 certified, compliant to Spec 1)
      4.Noise equivalent power of 1.5 x 10-14 W/√Hz
      Source stage1.Device biasing and measurement
      2.Voltage range: > 200V
      3.Current range: 1.5A max.
      4.Minimum resolution: 100 nV, 10 fA
      Photon detector1.Resolution: 100 ps
      2.Count rate: > 300 MHz
      3.Input voltage range: ± 5V
      Measurable parameters1.Photon detection probability over spectrum
      2.Dark counts
      3.External quantum efficiency over spectrum
      4.Breakdown voltage
      5.Spectral responsivity over spectrum

      (2) TDTM Time Domain Characterization Module

      TDTM Time Domain Characterization Module
      PS Laser1.Wavelength 940 nm
      2.FWHM <90 ps
      3.MAX rep. rate: 80 MHz (adjustable)
      T-counter1.Detection Channel: 4 Chs
      2.BIN Resolution: 5 ps
      3.Time-tagging and time-resolved modes
      Measurable Parameters1.Jitter
      2.Diffusion Tail
      3.Signal-to-Noise Ratio
      controller●Industrial Computer
      ●Screen
      ●Keyboard and Mouse

      相关文献

      Optional items

      Optional items
      Probe station1.Three styles: fully automatic / semi-automatic / manual
      2.Suitable for wafer level sample measurement
      3.Please contact us
      Customized test fixture1.Suitable for module type sample measurement
      2.Please contact us
      Custom camera obscura1.The camera obscura has a noise shielding function
      2.Please contact us

      Q&A

      评价

      目前还没有评价

      成为第一个“SLX-P 大面积光源” 的评价者

      您的邮箱地址不会被公开。 必填项已用 * 标注

      相关产品