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在半导体传感器的测试和开发过程中，选择一款能与测试设备完美整合的专业光源，是提升效率和精确度的关键。SLX-U 25085 照明器不仅满足这些需求，更专为与 Teradyne j750 测试机台无缝整合而设计，确保高效的测试环境。这款先进的照明器特别适用于需要极低光照条件的测试，例如星光级别的环境，并可提供从 0.1 照度到 10,000 照度的广泛光强度调整范围，完美满足高精度测试的需求。
为了确保在这些极具挑战性的低光照条件下，测试结果的准确性和一致性，SLX-U 25085提供了大面积的均匀光照区域（250毫米 x 85毫米），光谱和强度的稳定性超过99%。 这样的设计不仅让工程师在进行高精度传感器性能评估时，能够信赖其稳定一致的测试结果，更使其与 Teradyne j750 测试机台的整合更加顺畅，提升整体测试流程的效率。
对于在 CIS 领域工作的专业工程师而言，SLX-U 25085 专业的设计和与 Teradyne j750 的高度整合，意味着他们可以更精确地模拟和测试传感器在实际应用中的行为。这不仅提升了产品开发的效率，更确保了最终产品的质量和可靠度。SLX-U 25085 是一款强大的工具，专为那些在测试环境中追求高精度和高可靠度的用户而设计。
特征
与 Teradyne j750 测试机台的高度整合
SLX-U 25085 专为与 Teradyne j750 测试机台整合而设计，确保测试流程顺畅高效。 这种整合有助于实现准确一致的性能，这对于高 stakes 的半导体测试极其重要。
星光级别的照明，适用于超低光照测试
SLX-U 25085 提供星光级别的照明，能够提供低至 0.1 照度的光照条件，非常适合在极低光照环境下测试传感器。 此功能非常适用于需要极高灵敏度和精确度的应用。
光谱和强度的高度稳定性
SLX-U 25085 的设计旨在维持光谱和强度的稳定性超过 99%，即使在极低亮度条件下也能提供可靠且一致的结果。 高度的稳定性对于实现精确的传感器校准和测试至关重要。
大面积均匀光照区域
SLX-U 25085拥有250毫米x 85毫米的均匀光照区域，均匀度超过90%，确保整个测试区域都能获得均匀的光线照射，最大程度地减少可能影响测试结果准确性的任何变化。
广泛的光强度范围
这款照明器提供从 0.1 到 10,000 照度的广泛可调光强度范围，可灵活适应各种测试需求和条件。
卓越的光度准确性，适用于精密测试
SLX-U 25085 照明器达到 ±1% 的卓越光度准确性，确保每次测试都能提供精确的光输出。 这种程度的精确度对于光强度即使是细微的变化也会影响传感器校准和性能评估结果的应用来说至关重要。 凭借如此高的准确性，SLX-U 25085 成为半导体测试中不可或缺的工具，尤其是在需要严格遵守特定光照条件的环境中。
规格
| Uniformity light Area | 250mm x 85mm＞90% |
|---|---|
| Light Intensity | 0.1 ~ 10000 Lux |
| Luminous Accuracy | ±1% |
| Color Temperature | 4850K ~ 5500K |
| R/G and B/G variation | < ± 1.0 % |
| Dimension | 290mm x 110mm x 40mm |
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| Optional items | |
|---|---|
| Probe station | 1.Three styles: fully automatic / semi-automatic / manual 2.Suitable for wafer level sample measurement 3.Please contact us |
| Customized test fixture | 1.Suitable for module type sample measurement 2.Please contact us |
| Custom camera obscura | 1.The camera obscura has a noise shielding function 2.Please contact us |
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