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一看就懂，詳解絕對量子產率檢測步驟！
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Step 1. 架設激發光源
Step 1. 激發光源架設(本篇以405 nm雷射為例)：激發光源利用光纖耦合接上光纖，連接至積分球。
圖一：左圖為一個 405 nm 雷射光源，帶光纖耦合套件，激發光可以透過光纖導出。右圖則是檢查 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 所使用的積分球，側邊安裝光學模組可以連接光纖，並將激發光導入積分球內。
Step 2. 準備測試樣品與空白對照組
Step 2. 準備測試樣品與空白對照組：準備要檢查光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的測試樣品及空白對照，比如塗佈薄膜的樣品，其空白對照就是未塗佈薄膜的玻璃基板。
圖二：右圖的Sample是待檢查光致發光量子產率(Photoluminescence Quantum Yield, PLQY)的薄膜樣品，左圖的Blank是對照於右圖樣品，為塗佈薄膜的玻璃基板。
Step 3. 將測試樣品與空白對照組置入積分球
Step 3.將測試樣品與空白對照組置入積分球：分別將空白對照與要檢查光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的樣品放入積分球內，注意要垂直放入以避免樣品掉出，樣品架放入的方向也需要注意，將反射鏡的方向對準激發光入射的方向。
圖三：PL 樣品架的方式是由積分球上方放入，將樣品放入樣品架的凹槽中，並將反射鏡與樣品朝左方 (激發光入射方向) 擺入。
Step 4. 設定PLQY檢查系統的激發光源強度與光譜儀積分時間
Step 4. 調整檢查條件：首先，激發光光強可以照測試需求進行調整，可利用滑鼠移動輸出調整桿，或直接輸入需要的功率，100%表示全功輸出，依此類推。第二步是調整光譜儀檢查時間，需要配合上一步激發光強的條件進行調整，提高積分時間可使光譜訊號可以有很高的訊噪比 (100:1以上會是比較好的)，也不能設定太長，太長的時間除了影響測試時間外，也可能會因為訊號太強導致光譜數值飽和，數據失真。
圖四：檢查軟體上用來調整激發光功率輸出、訊號讀取以及進行初步測試的介面。
其中Power控制激發光的輸出功率，可手動輸入或用拉桿調整。SPM的Int_Time則是可以輸入光譜儀的積分檢查時間，最後在點擊上方Pre Test按鈕來檢查光譜，以檢視設定的條件是否合適。
Step 5. 開始光譜檢查
Step 5. 開始光譜檢查：分別檢查空白對照與樣品的螢光光譜，藍色光譜為空白對照光譜，而綠色則是要檢查光致發光量子產率(Photoluminescence Quantum Yield, PLQY)的樣品光譜，由於有光致發光(Photoluminescence, PL)，因此可以看到在激發光波長範圍內，樣品的光譜低於空白對照，表示部分激發光已被樣品吸收，然後在螢光的波長範圍，可以看到樣品的螢光光譜出現，而原本的空白對照則是沒有的。
圖五：光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的檢查軟體畫面。
左邊對應的功能分別是 (A) Blank空白對照檢查, (B) 樣品檢查, (C) 計算光致發光量子產率(Photoluminescence Quantum Yield, PLQY)。中央的光譜顯示圖中，藍色光譜為空白對照光譜，而綠色則是要檢查光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的樣品光譜。黑色虛線為選擇的激發光計算範圍，橘色虛線為選擇的螢光計算範圍。
Step 6.選擇計算PLQY所需光譜範圍，一鍵可得
Step 6.選擇計算PLQY所需光譜範圍，一鍵可得：分別選擇要計算的激發光波長範圍與螢光波長範圍後，按下計算功能，便可計算出光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY)。
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