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Enlitech提供最先進的光學無損檢測技術,可將數位圖像(Digital image)逆轉譯回類比訊號(analog signal),如量子效率、光譜響應、系統增益 K、動態範圍 (DR)、PRNU、DRNU、 線性誤差 LE 和主光線角度 (CRA)。 該測試解決方案可應用於航空航天、國防和科學相機領域的CCD和CMOS圖像傳感器…
最靈敏、緊湊和可靠的系統
Enlitech為入射光子-電子轉換測試提供了不同的解決方案。系統的可用系統包括IPCE、PV外量子效率(PV-EQE)、內量子效率、光譜響應(SR)、高可以EL-EQE。超過1,000篇SCI論文引用了恩利科技的,為重要的科學最高提供了系統可靠的實驗數據。最高的PV-EQE可能和EL-EQE均達到…