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最精巧的光致發光量子產率量測系統

光致發光與發光量子產率測試系統

LQ-100X-PL

什麼是PL?

PL (Photoluminescence, 光致發光):當材料吸收光子後,電子躍遷至激發態,再回到低能態,將能量以光的形式發出。

什麼是PLQY?

PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發光量子產率) 計算方式為發出的光子數除以吸收的光子數。PLQY是評價發光材料的重要指標,除了可以用來對材料進行初級分類的基本參數,且對於發光系統與其載子動力學的重要分析方法。

LQ-100X-PL如何測試PLQY?

量測背景訊號
量測樣品
計算樣品的光致發光量子產率:

Absolute Electroluminescence EQE/ Photoluminescence Quantum Yield Tester
PLQY formula
LQ-100X-PL _ 光致發光與發光量子產率測試系統 PLQY Calculation Photoluminescence Quantum Yield LQ 100X PL

PL與PLQY是研究材料表徵的重要工具,目前材料測試面臨挑戰有以下三點:

(1) 無法在手套箱內測試。
(2) 無法進行原位時間光譜解析。
(3) 紅外波段擴展不易。

LQ-100X-PL針對上述的3大痛點,做出了應對。

目錄

我們將根據您的需求提供定制解決方案,並將傳感技術集成到您的產品、產品應用和 OEM 解決方案中。告訴我們更多,我們會啟發您的想法。

特色

LQ-100X-PL擁有以下幾點優勢,可應對材料測試面臨的挑戰:

  • 以緊湊的設計,尺寸大小 502.4mm(L) x 322.5mm(W) x 352mm(H),搭配4吋外徑PTFE材質的積分球,並且整合NIST追溯的校準,讓手套箱整合PL與PLQY成為可能。
  • 利用先進的儀錶控制程式,可以進行原位時間PL光譜解析,並且可產生2D與3D圖表,説明使用者可以更快地表徵材料在原位時間的變化。
  • 系統光學設計可容易的做紅外擴展,波長由1000 nm至1700 nm。粉末、溶液、薄膜樣品都可相容測試。

規格

標準配置:

  • 全向式收光系統 (100 mm 積分球)
  • 增強型多通道光譜儀測試系統
  • 光致發光量測模組 (365 nm LED 激發光源)
  • 量測軟體
  • 工控機與螢幕

選配規格:

  • EL光譜整合測試套件 (源表/PMT模組/背探式樣品盒/多通道手動切換盒/EL量測軟體升級)
  • 紅外光譜擴充模組 (900 – 1700 nm)
  • 手套箱整合套件
  • 激發光源
  • LED光源 (波長可選:385 nm / 405 nm / 430 nm / 470 nm / 532 nm)
  • Laser光源 (波長可選:375 nm / 405 nm / 532 nm)
LQ-100X-PL _ 光致發光與發光量子產率測試系統 PLQY Calculation measurement software LQ 100X PL

應用

  • 螢光粉 (Phosphor)
  • 發光二極體螢光材料 (LED fluorescent material)
  • 有機發光二極體螢光材料 (OLED fluorescent material)
  • 鈣鈦礦 (Perovskite)
  • 雷射染料 (Laser dies)
  • 鈣鈦礦量子點粉末與單晶 (Perovskite quantum dot powder and single crystal)
  • PbS量子點 (PbS quantum dot)

實證

PLQY Spectrum Photoluminescence Quantum Yield

LQ-100X-PL系統可以針對多種材料進行PL與PLQY測試。步驟如下:

  1. 測量背景訊號,如圖中藍色曲線,並可計算入射激發光子總數。
  2. 測量樣品光譜,如圖中綠色曲線。計算得到發射光子總數。
  3. 計算 2. 步驟中,樣品吸收光子率與吸收光子總數。
  4. 由1. 3. 相除可得到PLQY。
PLQY software PL Spectrum CIE

LQ-100X-PL軟體可以針對PL發射光譜進行多種分析,以定量的表徵材料的特性。包含:

  1. 發光CIE色座標
  2. CIE-xyz
  3. CIE-XYZ
  4. CIE-uv
  5. 色溫
  6. 色彩純度
PLQY PL Spectrum Photoluminescence Quantum Yield

LQ-100X-PL除了PLQY測量外,還可進行PL光譜隨時間變化連續測試,並繪製成2D或3D顯示圖-稱為原位時間解析PL光譜圖。如圖所示,鈣鈦礦的PL光譜隨著時間增加的變化,可以波長半寬(FWHM)隨之增加,並且產生中心波長(Peak Lambda)紅移的現象。分析原位時間解析PL光譜圖,對於新型材料如鈣鈦礦的穩定性或亞穩態特性,具有直接的的證據說服力。是材料表徵的最佳工具。 

資源 & 下載

手册

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