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LQ-50X 高速/高靈敏電致發光效率測試系統

最靈敏的LED電致發光量測系統

目前LED發展所面臨的挑戰包含:

(1) 新型態的LED具備低亮度(< 50000 cd/m2)、衰減快的特性

(2) 發光半寬(FWHM)較傳統LED小(OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)

(3) 非朗伯體(Non-Lambertian)分佈,使得輝度(cd/m2)換算EQE時誤差很大

(4) 發光波長超過視函數波段(可見光範圍),無法以光通量與輝度評價

其中「衰減快」與「紅外發光的準確評價」,是與轉換效率高低最息息相關,因此光焱科技推出LQ-50X,採用單光子偵測技術、NIR增強光學設計與元件並擁有簡便的設計可與手套箱直接整合。

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目錄

我們將根據您的需求提供定制解決方案,並將傳感技術集成到您的產品、產品應用和 OEM 解決方案中。告訴我們更多,我們會啟發您的想法。

特色

  • 採用單光子偵測技術,克服傳統光譜儀在低亮度需要長曝光時間 (1~3秒) 的特徵,加快測試速度,以確保測試的準確性與高效率。
  • 採用 NIR 增強光學設計與元件,使其涵蓋波長可達到 1100 nm,更可擴展到 1700 nm。
  • 設計簡便,並且可與手套箱直接整合,同時對於各種樣品形式都可以做很好的適配。

LQ-50X 可快速測試每個電壓下的發光光譜,並可取得輻照度、輝度、CIE 座標等多項參數值,實測無機 LED 測試量測不重複性小於0.2 %。

發光光譜單點光譜測量時間
高亮度 > 6000 cd/m2< 20 ms
低亮度 > 100 cd/m2< 100 ms
超低亮度 > 10 cd/m2< 500 ms

LQ-50X為NIST溯源,與國外校正的白光與綠光LED比對,差異值小於0.5 %。

 Certified Value (lm)LQ-100 (lm)Deviation (%)
G-LED3.4263.4530.39 %
W-LED4.6524.6290.25 %

規格

標準配置:

  • 全向式收光系統 (50 mm 積分球)
  • 增強型多通道光譜儀測試系統
  • 探針系統
  • 量測軟體
  • 工控機與螢幕

選配規格:

  • 紅外光譜擴充模組 (900 – 1700 nm)
  • 手套箱整合套件

應用

  • Perovskite LED / Perovskite Laser Diode
  • Organic IR LED
  • QD LED / QD Laser Diode
  • VESEL Laser Diode

實證

LQ-50X LED Jsc EQE IPCE measurement LQ 50X

量測結果總覽

LED Jsc EL-EQE IPCE measurement

 

LED light-emitting diodes Jsc EL-EQE IPCE measurement

 

LED light-emitting diodes Jsc EQE quantum efficiency measurement

 

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