最靈敏的LED電致發光量測系統
高速/高靈敏電致發光效率測試系統
LQ-50X
目前LED發展所面臨的挑戰包含：
(1) 新型態的LED具備低亮度(< 50000 cd/m2)、衰減快的特性
(2) 發光半寬（FWHM）較傳統LED小(OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)
(3) 非朗伯體(Non-Lambertian)分佈，使得輝度(cd/m2)換算EQE時誤差很大
(4) 發光波長超過視函數波段(可見光範圍)，無法以光通量與輝度評價
其中「衰減快」與「紅外發光的準確評價」，是與轉換效率高低最息息相關，因此光焱科技推出LQ-50X，採用單光子偵測技術、NIR增強光學設計與元件並擁有簡便的設計可與手套箱直接整合。
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目錄
我們將根據您的需求提供定制解決方案，並將傳感技術集成到您的產品、產品應用和 OEM 解決方案中。告訴我們更多，我們會啟發您的想法。
特色
- 採用單光子偵測技術，克服傳統光譜儀在低亮度需要長曝光時間 (1~3秒) 的特徵，加快測試速度，以確保測試的準確性與高效率。
- 採用 NIR 增強光學設計與元件，使其涵蓋波長可達到 1100 nm，更可擴展到 1700 nm。
- 設計簡便，並且可與手套箱直接整合，同時對於各種樣品形式都可以做很好的適配。
LQ-50X 可快速測試每個電壓下的發光光譜，並可取得輻照度、輝度、CIE 座標等多項參數值，實測無機 LED 測試量測不重複性小於0.2 %。
| 發光光譜 | 單點光譜測量時間 |
|---|---|
| 高亮度 > 6000 cd/m2 | < 20 ms |
| 低亮度 > 100 cd/m2 | < 100 ms |
| 超低亮度 > 10 cd/m2 | < 500 ms |
LQ-50X為NIST溯源，與國外校正的白光與綠光LED比對，差異值小於0.5 %。
| Certified Value (lm) | LQ-100 (lm) | Deviation (%) | |
|---|---|---|---|
| G-LED | 3.426 | 3.453 | 0.39 % |
| W-LED | 4.652 | 4.629 | 0.25 % |
規格
標準配置：
- 全向式收光系統 (50 mm 積分球)
- 增強型多通道光譜儀測試系統
- 探針系統
- 量測軟體
- 工控機與螢幕
選配規格：
- 紅外光譜擴充模組 (900 – 1700 nm)
- 手套箱整合套件
應用
- Perovskite LED / Perovskite Laser Diode
- Organic IR LED
- QD LED / QD Laser Diode
- VESEL Laser Diode
實證
量測結果總覽
資源 & 下載
手册
安裝成果展示
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