光焱科技提供最先進的光學無損檢測技術，可將數字圖像解卷積回模擬屬性，如量子效率、光譜響應、系統增益 K、動態範圍 (DR)、PRNU、DRNU、線性誤差 LE 和主光線角度 (CRA)。該測試解決方案可應用於航空航天、國防和科學相機領域的CCD和CMOS圖像傳感器。 Enli Tech 系統可以測試的圖像傳感器封裝包括裸晶圓、裸片、芯片或相機模塊。我們的圖像傳感器測試儀可以幫助用戶減少傳感器模塊或相機模塊的開發時間和研發預算。