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SG-A

CMOS圖像傳感器測試儀

快速安裝和快速部署可以幫助您加快上市時間。

  SG-A 系統是世界上第一個商用 CMOS 圖像傳感器測試儀。 SG-A 可以提供最全面的 CMOS 圖像傳感器參數表徵,如全譜量子效率 QE、整體系統增益 K、時間暗噪聲、信噪比、絕對靈敏度閾值、飽和容量、動態範圍、DSNU 、PRNU、線性誤差和主光線角 CRA。 被測設備可以是多種類型的 CMOS 圖像傳感器模塊。檢驗程序符合 EMVA 1288 標準。因此,SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀可用於晶圓級光學檢測、工藝參數控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。 SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀的高度准直光束(<1°)可以克服傳統光學系統(如積分球系統)無法解決的新製造工藝的檢測難題。這些工藝包括小像素(< 1 um)、BSI 和 3D 堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設計等。

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Contents

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我們的專業團隊將為您提供幫助!

我們根據您的需求提供定制解決方案,並將傳感技術集成到您的產品、產品應用和 OEM 解決方案中。

告訴我們更多,我們會啟發您的想法。

特色
  • 無損光學檢測。

  • 高度準直樑角 / 高準直波束角 <0.05 度, <0.1 度, <0.5 度 ,<1 度, <3 度 (不同型號)
  • 高均勻光束點:≥ 99%。

  • 光的不穩定性≤1%。

  • 高動態範圍測試能力:80dB ~ 140dB(不同型號)。

  • 可測試 CMOS 圖像傳感器參數:量子效率、光譜響應、系統增益、靈敏度、動態範圍、暗電流 / 噪聲、信噪比、飽和容量、線性誤差(LE)、DCNU(暗電流非均勻性)、PRNU(光響應)非均勻性)、CRA(主光線角)。

  • 全光譜波長范圍:300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm(PTC)。

  • 波長可擴展至 1700nm 以上。

  • DUT 封裝:CIS 模塊,PCB 板級,CIS 攝像頭,有 / 無微透鏡。

  • SG-A 和 DUT 之間的 “直接” 或 “握手” 通信協議。

  • 定制的測試夾具和平台(手動或自動,最多 6 軸)。

  • 強大的分析軟件 ARGUS®。

  • 應用:指紋識別(CIS + Lens、CIS + 准直器、TFT-array sensor)CIS 微透鏡設計、晶圓級光學檢測、CIS DSP 芯片算法開發、Si TFT 傳感器面板、Time-of-Flight 相機傳感器、Proximity 傳感器(量子效率、靈敏度、線性度、SNR 等)、d-ToF 傳感器、i-ToF 傳感器、多光譜傳感器、環境光傳感器 (ALS)、顯示屏下指紋 (FoD) 傳感器。 

系統設計
CMOS image sensor tester system design
規格

  SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀的功能非常強大, 因此相關的規格和配件非常齊全。請聯繫我們了解更多詳情和選型諮詢, 以下是主要的能力規格:

– 全光譜波長范圍:300 – 1100 納米 或 350 – 1000 納米 (PTC)。
– 波長范圍可以擴展到 1700nm 或更高。
– 單波長光源:470nm、530nm、630nm、940nm(±5nm)或訂制。
– 動態範圍:80dB、100dB 或 140dB。
– 測試夾具:DUT ≤ 100mm x 100mm x 30mm (高度)[基本型] 或訂制。
– 載物台:無、手動 3 軸或 6 軸(手動 + 自動)載物台(可訂制)

應用範圍
  • 指紋識別(CIS + 鏡頭、CIS + 准直器、TFT 陣列傳感器)
  • CIS 微透鏡設計,晶圓級光學檢測
  • CIS DSP 芯片算法開發
  • Si TFT 傳感器面板
  • 飛行時間相機傳感器
  • 接近傳感器(量子效率、靈敏度、線性度、SNR 等)
  • d-ToF 傳感器、i-ToF 傳感器
  • 多光譜傳感器
  • 環境光傳感器 (ALS)
  • 屏下指紋 (FoD) 傳感器
立即行動!

我們有專業的團隊幫助您評估您的申請和提供定製設計與解決方案。

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