新世代光電探測器 (PD) 的完整解決方案
PD-QE 新型光電感測器特性分析儀
傳統的量子效率系統在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰。如：
- 偏置電壓無法超過12V：傳統量子效率系統使用鎖相放大器，其承受直流電壓無法過大，因此在一般的量子效率測試儀，電偏壓無法施加超過12V。
- 無法做雜訊頻率分析。
- 無法直接測得NEP與D*。
光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為PD-QE。
目錄
我們將根據您的需求提供定制解決方案，並將傳感技術集成到您的產品、產品應用和 OEM 解決方案中。告訴我們更多，我們會啟發您的想法。
特色
PD-QE系統是光焱科技在過去十年的小光斑 (power mode) 基礎上，進化開發完成。
- 可應用在PV的EQE量子效率測試、新型光感測器的研究。
- 在全新的軟體平臺SW-XQE上，具有便捷的擴展性：可測試標準EQE外，更可整合多種SMU的控制，並檢測IV曲線。同時具備各種分析功能，如D*、NEP、頻率雜訊圖。
規格
- PD-QE 有不同的模組，偏置電壓也可由20 V到1000 V。同時，可檢測的光電流，解析度最高可達10-16 A。
- 波長擴充可達1800 nm。
- 可選配軟體升級控制Kiethley 4200 SMU。
應用
- 有機光感測器 (OPD, Organic Photodiode)
- 鈣鈦礦光感測器 (PPD, Perovskite Photodiode)
- 量子點光感測器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)
- 新型材料光感測器
實證
- NEP/D*
PD-QE可直接針對器進進行頻率雜訊的檢測與作圖。
- EQE光譜
PD-QE 可以進行EQE光譜測試。除了標準的300nm ~ 1100nm波段，PD-QE可擴展到1800nm。圖中顯示不同波長回應器件，在PD-QE系統下，測的EQE量子效率光譜。
- 整合多種SMU控制進行IV曲線測試
PD-QE已整合Keithley與Keysight出產的多種SMU，進行多種的IV曲線掃描。使用者無需另外尋找或是自行整合IV曲線測試。圖中顯示PD-QE測試不同樣品的IV曲線，並進行多圖顯示。
- 雜訊電流頻譜圖
PD-QE憑藉先進數位訊號採集與處理技術，直接可測試各種探測器在不同頻率下的雜訊電流圖。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進行測種測試！並且軟體可以進行多種頻段的特性分析，如Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise等。PD-QE是針對新世代PD測試的完整解決方案。
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