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新世代光電探測器 (PD) 的完整解決方案

PD-QE 新型光電感測器特性分析儀

傳統的量子效率系統在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰。如:

  1. 偏置電壓無法超過12V:傳統量子效率系統使用鎖相放大器,其承受直流電壓無法過大,因此在一般的量子效率測試儀,電偏壓無法施加超過12V。
  2. 無法做雜訊頻率分析。
  3. 無法直接測得NEP與D*。

光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為PD-QE。

Photodetector Quantum Efficiency
目錄

我們將根據您的需求提供定制解決方案,並將傳感技術集成到您的產品、產品應用和 OEM 解決方案中。告訴我們更多,我們會啟發您的想法。

特色

PD-QE系統是光焱科技在過去十年的小光斑 (power mode) 基礎上,進化開發完成。

  • 可應用在PV的EQE量子效率測試、新型光感測器的研究。
  • 在全新的軟體平臺SW-XQE上,具有便捷的擴展性:可測試標準EQE外,更可整合多種SMU的控制,並量測IV曲線。同時具備各種分析功能,如D*、NEP、頻率雜訊圖。

規格

  • PD-QE 有不同的模組,偏置電壓也可由20 V到1000 V。同時,可測量高解析度的光電流,解析度最高可達10-16 A。
  • 波長擴充可達1800 nm。
  • 可選配軟體升級控制Kiethley 4200 SMU。

應用

  • 有機光感測器 (OPD, Organic Photodiode)
  • 鈣鈦礦光感測器 (PPD, Perovskite Photodiode)
  • 量子點光感測器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)
  • 新型材料光感測器

實證

Photodetector photodiode NEP
Photodetector photodiode Detectivity

PD-QE可直接針對器進進行頻率雜訊的測量與作圖。

Photodetector photodiode EQE 300nm 1800nm

  PD-QE 可以進行EQE光譜測試。除了標準的300nm ~ 1100nm波段,PD-QE可擴展到1800nm。圖中顯示不同波長回應器件,在PD-QE系統下,測的EQE量子效率光譜。

Photodetector photodiode Dark IV SMU

  PD-QE已整合Keithley與Keysight出產的多種SMU,進行多種的IV曲線掃描。使用者無需另外尋找或是自行整合IV曲線測試。圖中顯示PD-QE測試不同樣品的IV曲線,並進行多圖顯示。

Photodetector photodiode Noise Current Frequency Spectrum

  PD-QE憑藉先進數位訊號採集與處理技術,直接可測試各種探測器在不同頻率下的雜訊電流圖。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進行測種測試!並且軟體可以進行多種頻段的特性分析,如Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise等。PD-QE是針對新世代PD測試的完整解決方案。

資源 & 下載

手册

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PD-QE Inquiry
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