高效太陽能電池電壓損耗 / 電流損耗分析軟體
SQ-JVFLA
隨著高效矽基太陽能電池的技術發展,需要能夠分析每種工藝技術的太陽能電池功率損失原因。研發高轉化效率工藝對良率控制至關重要。
提高高效矽基太陽能電池的轉換效率,短路電流密度(Jsc )、開路電壓(Voc )和填充因子(FF)是關鍵參數。了解損失機制正成為近年來的主要研究課題。人們可以從 NREL 效率表上的許多效率突破記錄中意識到這一趨勢。以往相關的損耗分析軟體只能分析 Jsc 或 Voc ,用戶很難全面了解太陽能電池功耗的全貌。
SQ-JVFLA 是全球首款同時分析高效矽基太陽能電池 Jsc- loss、Voc – loss 和 FF-loss 的軟體。不同條件下的分析結果可以同時相互比較。它不僅可以大大縮短用戶的數據處理時間,還可以加快進程開發進度。
目錄
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特色
- SQ-JVFLA 使用 Shockley- Queisser (SQ)細緻平衡極限理論分析和計算的開路電壓損失。SQ-JVFLA 的分析方法和結果已經被 Science、Nature、Joule 等許多 SCI 期刊認可和採用…等。
- SQ-JVFLA 可以分析新型高效太陽能電池(如 PERC、HJT 和 TOPCon )的 Jsc 、Voc 和 FF 損耗。
- SQ-JVFLA 可以在同一圖表中同時對不同的製造工藝或條件進行損耗比較。
- 借助 Enlitech QE-R / SS / REPS 系統的檢測數據,SQ-JVFLA 可以更快地計算和分析 Voc 損耗。
Jsc -loss 分析結果的螢幕截圖
Voc -loss 分析結果的螢幕截圖
FF-loss 分析結果的螢幕截圖
5. 可同時比較不同工具條件的分析結果。
Jsc -loss 比較圖表的螢幕截圖
Voc -loss 比較圖表的螢幕截圖
FF-loss 損耗分析比較圖的螢幕截圖
規格
型號 | 名稱 | 項目 | 規格 |
---|---|---|---|
SQ-JVFVLA (非單獨銷售) | 高效太陽能電池電壓損耗/電流損耗分析軟體 | ● SQ-JVFLA使用Shockley- Queisser (SQ)細緻平衡極限的理論模型。 ● SQ-JVFLA 需要PV-EQE、R、IV 曲線數據。 ● SQ-JVFLA 可以分析Jsc -losses: - 金屬陰影損耗 - ARC 反射 - 前表面逃逸 - 藍光損失 - NIR 寄生吸收 - 鹼收集損失 - 非均勻性損失 ● SQ-JVFLA 可以分析Voc - 損失: – 熱力學損失(E1 損耗) - 輻射複合損耗(E2 損耗,例如:帶隙、摻雜、缺陷) - 非輻射損耗(E3 損耗,例如:金屬-半導體結損耗、結損耗等) ● SQ-JVFLA 可以分析FF 損耗: - 由於 Rs 導致的絕對FF 損耗 由於Rsh導致的絕對 FF 損耗 – 由於 J02 二極管重組組件導致的絕對 FF 損耗 ● 操作系統要求: - Windows 10 - 處理器:i5(64 位)或更快的處理器 - RAM :8GB - 磁盤空間:10GB |
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