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SQ-JVFLA

高效太陽能電池電壓損耗/電流損耗分析軟體

  隨著高效矽基太陽能電池的技術發展,需要能夠分析每種工藝技術的太陽能電池功率損失原因。研發高轉化效率工藝對良率控制至關重要。

  提高高效矽基太陽能電池的轉換效率,短路電流密度(Jsc )、開路電壓(Voc )和填充因子(FF)是關鍵參數。了解損失機制正成為近年來的主要研究課題。人們可以從 NREL 效率表上的許多效率突破記錄中意識到這一趨勢。以往相關的損耗分析軟體只能分析Jsc或Voc ,用戶很難全面了解太陽能電池功耗的全貌。

  SQ-JVFLA是全球首款同時分析高效矽基太陽能電池Jsc- loss、Voc – loss和FF-loss的軟體。不同條件下的分析結果可以同時相互比較。它不僅可以大大縮短用戶的數據處理時間,還可以加快進程開發進度。

Highly efficient solar cell voltage loss / current loss analyzing software

內容

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特色
  1. SQ-JVFLA使用Shockley- Queisser (SQ)細緻平衡極限理論分析和計算的開路電壓損失。SQ-JVFLA的分析方法和結果已經被Science、Nature、Joule等許多SCI期刊認可和採用。阿爾。
  2. SQ-JVFLA可以分析新型高效太陽能電池(如PERC、HJT和TOPCon )的Jsc 、Voc和FF損耗。
  3. SQ-JVFLA 可以在同一圖表中同時對不同的製造工藝或條件進行損耗比較。
  4. 借助Enlitech QE-R/SS/ REPS系統的測量數據,SQ-JVFLA 可以更快地計算和分析Voc損耗。
Jsc-loss analyzed results 分析結果

Jsc -loss 分析結果的螢幕截圖。

Voc-loss analyzed results 分析結果

Voc -loss 分析結果的螢幕截圖。

SQ-JVFLA SQ JVFLA FF loss analyzed results

FF-loss 分析結果的螢幕截圖。

5. 可同時比較不同工藝條件的分析結果。

Jsc-loss comparison

Jsc -loss 比較圖表的螢幕截圖。

Voc-loss comparison

Voc -loss 比較圖表的螢幕截圖。

FF-loss comparison

FF-loss 損耗分析比較圖的螢幕截圖。

規格

型號名稱項目規格
SQ-JVFVLA
(非單獨銷售)
高效太陽能電池電壓損耗/電流損耗分析軟體● SQ-JVFLA使用Shockley- Queisser (SQ)細緻平衡極限的理論模型。
● SQ-JVFLA 需要PV-EQE、R、IV 曲線數據。
● SQ-JVFLA 可以分析Jsc -losses:
 - 金屬陰影損耗
 - ARC 反射
 - 前表面逃逸
 - 藍光損失
 - NIR 寄生吸收
 - 鹼收集損失
 - 非均勻性損失
● SQ-JVFLA 可以分析Voc  - 損失:
– 熱力學損失(E1 損耗)
 - 輻射複合損耗(E2 損耗,例如:帶隙、摻雜、缺陷)
 - 非輻射損耗(E3 損耗,例如:金屬-半導體結損耗、結損耗等)
● SQ-JVFLA 可以分析FF 損耗:
 - 由於 Rs 導致的絕對FF 損耗
 由於Rsh導致的絕對 FF 損耗 –
 由於 J02 二極管重組組件導致的絕對 FF 損耗
● 操作系統要求:
 - Windows 10
 - 處理器:i5(64 位)或更快的處理器
 - RAM :8GB
 - 磁盤空間:10GB

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