高效太陽能電池電壓損耗 / 電流損耗分析軟體

SQ-JVFLA

　　隨著高效矽基太陽能電池的技術發展，需要能夠分析每種工藝技術的太陽能電池功率損失原因。研發高轉化效率工藝對良率控制至關重要。

　　提高高效矽基太陽能電池的轉換效率，短路電流密度（Jsc ）、開路電壓（Voc ）和填充因子（FF）是關鍵參數。了解損失機制正成為近年來的主要研究課題。人們可以從 NREL 效率表上的許多效率突破記錄中意識到這一趨勢。以往相關的損耗分析軟體只能分析 Jsc 或 Voc ，用戶很難全面了解太陽能電池功耗的全貌。

　　SQ-JVFLA 是全球首款同時分析高效矽基太陽能電池 Jsc- loss、Voc – loss 和 FF-loss 的軟體。不同條件下的分析結果可以同時相互比較。它不僅可以大大縮短用戶的數據處理時間，還可以加快進程開發進度。

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特色

SQ-JVFLA 使用 Shockley- Queisser （SQ）細緻平衡極限理論分析和計算的開路電壓損失。SQ-JVFLA 的分析方法和結果已經被 Science、Nature、Joule 等許多 SCI 期刊認可和採用…等。
SQ-JVFLA 可以分析新型高效太陽能電池（如 PERC、HJT 和 TOPCon ）的 Jsc 、Voc 和 FF 損耗。
SQ-JVFLA 可以在同一圖表中同時對不同的製造工藝或條件進行損耗比較。
借助 Enlitech QE-R / SS / REPS 系統的檢測數據，SQ-JVFLA 可以更快地計算和分析 Voc 損耗。

Jsc -loss 分析結果的螢幕截圖

Voc -loss 分析結果的螢幕截圖

FF-loss 分析結果的螢幕截圖

5. 可同時比較不同工具條件的分析結果。

Jsc -loss 比較圖表的螢幕截圖

Voc -loss 比較圖表的螢幕截圖

FF-loss 損耗分析比較圖的螢幕截圖

規格

型號	名稱	項目	規格
SQ-JVFVLA （非單獨銷售）		高效太陽能電池電壓損耗/電流損耗分析軟體	● SQ-JVFLA使用Shockley- Queisser （SQ）細緻平衡極限的理論模型。 ● SQ-JVFLA 需要PV-EQE、R、IV 曲線數據。 ● SQ-JVFLA 可以分析Jsc -losses：　- 金屬陰影損耗　- ARC 反射　- 前表面逃逸　- 藍光損失　- NIR 寄生吸收　- 鹼收集損失　- 非均勻性損失 ● SQ-JVFLA 可以分析Voc 　- 損失： – 熱力學損失（E1 損耗）　- 輻射複合損耗（E2 損耗，例如：帶隙、摻雜、缺陷）　- 非輻射損耗（E3 損耗，例如：金屬-半導體結損耗、結損耗等） ● SQ-JVFLA 可以分析FF 損耗：　- 由於 Rs 導致的絕對FF 損耗　由於Rsh導致的絕對 FF 損耗 – 　由於 J02 二極管重組組件導致的絕對 FF 損耗 ● 操作系統要求：　- Windows 10 　- 處理器：i5（64 位）或更快的處理器　- RAM ：8GB 　- 磁盤空間：10GB