Enlitech 出席第26屆中國國際光電博覽會（CIOE 2025）

Enlitech 將於2025 年 9 月 10–12 日出席在深圳國際會展中心舉辦的第26屆中國國際光電博覽會（CIOE 2025）。
作為全球領先的光電與半導體產業盛會，CIOE 匯聚了來自世界各地的光電元件、半導體器件、光學檢測、智慧感測與 AIoT 應用相關專家與企業。 

Enlitech 展示最新智能傳感與半導體光學檢測設備

在 CIOE 2025 的智能傳感展（六館），Enlitech 將展示前沿的半導體光學測試解決方案，幫助研究人員與工程師精準驗證光電感測器、SPAD、CMOS 影像感測器的效能。

本次重點展品包括：

• SPD2200：商用級SPAD 單光子雪崩二極體效率整合型測試儀
• APD-QE：先進光感測器量子效率光學儀
• SG-A：CMOS 影像感測器測試儀

這些設備能協助科研人員與產業工程師突破高速晶片、智慧感測器、光電應用的性能瓶頸。

誠摯邀請您蒞臨 Enlitech 攤位 6E50 · 6E51

Enlitech 將由專業團隊於現場解說光學測試與智能傳感的應用價值，誠摯邀請您前往6E50、6E51 攤位，與我們交流半導體光學測試的未來趨勢！