Enlitech 參展 OFC 2026 國際光纖通訊展覽暨研討會 | 攤位 5055 | 2026年3月17–19日 | 美國洛杉磯會議中心

矽光子的良率挑戰，往往源自電性測試無法捕捉的光損耗機制。

在 OFC 2026，探索 Night Jar™ — 一款專為以下應用設計的高靈敏度晶圓級光損耗映射平台：

• 矽光子（SiPh）
• PIC 晶圓級測試
• WAT 中的光學可觀測性
• 可靠性驗證與加速老化研究
• 封裝前製程監控

看見光消失的地方 — 在良率流失之前。

若您正從事矽光子、光學元件驗證、ATE 整合或良率改善相關工作，歡迎親臨展位，探索 Night Jar™ 如何為您的工作提供支援。