Enlitech 出席 2025 Semicon Taiwan 國際半導體展

Enlitech 將於 2025 年 9 月 10–12 日 出席在 台北南港展覽館 舉辦的 2025 Semicon Taiwan 國際半導體展。
作為亞洲最具影響力的半導體產業盛會，Semicon Taiwan 聚焦於晶片製程、材料創新、先進封裝、光電感測與應用，吸引全球晶片製造商、研究機構與產業專家共同參與。

Enlitech 展示最新半導體光學檢測解決方案

秉持「Optical Testing — The Standard for High-Speed Chips 光學測試，為高速晶片定義真實性能」的核心理念，Enlitech 專注於開發先進的半導體光學測試設備，協助研究人員與工程師精準掌握 高速晶片與光電感測器 的性能。

在本次展會，Enlitech 將分享以下設備：

• SPD2200：商用級 SPAD 單光子雪崩二極體效率整合型測試儀

• APD-QE：先進光感測器量子效率光學測試儀

• SG-A：CMOS 影像感測器測試儀

這些檢測解決方案廣泛應用於高速晶片、光子學、光電感測器 的效能驗證與突破研究。

誠摯邀請您參觀 Enlitech 攤位 I2507

在 2025 Semicon Taiwan，Enlitech 將由專業團隊於現場提供技術解說，協助您深入了解光學測試在半導體與光電領域的應用價值。
我們誠摯邀請您蒞臨 I2507 攤位，與我們交流半導體光學檢測的未來！