AI 與 CPO 時代的矽光子良率突破
隨著高頻寬資料中心與 AI 伺服器需求爆發，「銅退光進」與共同封裝光學（CPO）已成為必然。
然而，在異質整合與先進封裝成本極高的背景下，如何在封裝前精准篩選已知合格晶粒（KGD），
成為良率與獲利的決定性因素。
光焱科技推出的矽光子晶圓級測試解決方案，透過兩大利器完整解決產業痛點：
NightJar™ 缺陷檢測系統 — 用高光譜技術讓缺陷「無所遁形」
．高光譜成像精准定位異常點（定位、定質、定量）
．O-to-O 全參數表徵（IL、SOP、光電轉換響應）
．晶圓級缺陷分佈圖（Defect Map），速度快 60 倍
．支援 WAT/CP/FT 全生命週期 KGD 篩選
FireFox-1310 老化驗證系統 — 突破功率極限，加速可靠性認證
．突破 26 dBm 瓶頸，輸出超過 30 dBm (1W) 超高功率
．全龎加萊球偏振控制，零人工調整
．24/7 零漂移穩定性，縮短老化週期 3 個月
．專為 DWDM 多通道與 PIC 並行測試
特別亮點：
Dr. Joseph Liao 總經理暨技術長將於8/31(一) 矽光子國際論壇發表技術演講，現場演說如何透過 NightJar 的精准缺陷定位與 FireFox 的可靠性加速，助力矽光子產業搶占 CPO 時代的市場機遇。
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