矽光子CPO封裝的良率提升:從晶圓開始看光的信號完整性

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矽光子CPO封裝的良率提升:從晶圓開始看光的信號完整性

您是否正面臨這些挑戰:

  • 晶圓級光學測試良率難以突破既有水準?
  • CPO封裝對準精度影響整體產品良率?
  • 光信號完整性問題成為量產最大障礙?

不要讓技術瓶頸限制您的突破!

本活動報名踴躍,名額已全數額滿,活動已圓滿結束,感謝您的熱情支持!

活動引言及重點

隨著AI與高效能運算需求激增,CPO(Co-Packaged Optics)技術成為數據中心光互連的關鍵解決方案。CPO將光學元件與交換器ASIC直接封裝,有效提升頻寬密度並降低功耗。然而,光電異質整合、精密對位及熱管理等複雜挑戰,使CPO量產良率成為產業突破的關鍵瓶頸。

本研討會聚焦CPO封裝良率提升核心議題,從矽光子晶圓製造源頭出發,深入探討如何確保光信號完整性,並分析影響晶圓級光學性能的關鍵因素。透過剖析最新技術突破與創新測試策略,為業界提供克服CPO量產瓶頸的實務洞見。

深度技術解析

從晶圓製造到封裝應用的完整技術鏈分析,矽光子晶圓製程關鍵步驟的良率影響因子深度剖析

實務案例分享

關鍵製程參數調優前後的良率對比數據分析,供應鏈協同改善的成功案例分享

前瞻技術探討

下一代矽光子CPO技術發展趨勢,CPO架構對良率工程的新挑戰與機會

專業交流平台

與業界專家直接交流的難得機會,建立長期技術合作關係的絕佳networking機會

光電領域深耕超過十五年的資深專家

協助客戶於封裝前即精準掌握晶圓狀況,以有效降低測試成本並提升生產效率,持續推動技術創新,例如開發新型矽光子專用的晶圓級檢測設備,以應對AI、高速資料中心等趨勢下的市場需求

活動海報

Enlitech_CPO_discourse_ver2

光電整合x數位創新 共同封裝光學應用與挑戰 座談研討會

活動資訊

活動時間

報名洽詢

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