矽光子CPO封裝的良率提升:從晶圓開始看光的信號完整性 矽光子CPO封裝的良率提升:從晶圓開始看光的信號完整性 您是否正面臨這些挑戰:晶圓級光學測試良率難以突破既有水準?CPO封裝對準精度影響整體產品良率?光信號完整性問題成為量產最大障礙?不要讓技術瓶頸限制您的突破! 本活動報名踴躍,名額已全數額滿,活動已圓滿結束,感謝您的熱情支持! 活動資訊 活動引言及重點 隨著AI與高效能運算需求激增,CPO(Co-Packaged Optics)技術成為數據中心光互連的關鍵解決方案。CPO將光學元件與交換器ASIC直接封裝,有效提升頻寬密度並降低功耗。然而,光電異質整合、精密對位及熱管理等複雜挑戰,使CPO量產良率成為產業突破的關鍵瓶頸。本研討會聚焦CPO封裝良率提升核心議題,從矽光子晶圓製造源頭出發,深入探討如何確保光信號完整性,並分析影響晶圓級光學性能的關鍵因素。透過剖析最新技術突破與創新測試策略,為業界提供克服CPO量產瓶頸的實務洞見。 深度技術解析 從晶圓製造到封裝應用的完整技術鏈分析,矽光子晶圓製程關鍵步驟的良率影響因子深度剖析 實務案例分享 關鍵製程參數調優前後的良率對比數據分析,供應鏈協同改善的成功案例分享 前瞻技術探討 下一代矽光子CPO技術發展趨勢,CPO架構對良率工程的新挑戰與機會 專業交流平台 與業界專家直接交流的難得機會,建立長期技術合作關係的絕佳networking機會 光電領域深耕超過十五年的資深專家 協助客戶於封裝前即精準掌握晶圓狀況,以有效降低測試成本並提升生產效率,持續推動技術創新,例如開發新型矽光子專用的晶圓級檢測設備,以應對AI、高速資料中心等趨勢下的市場需求 活動海報 光電整合x數位創新 共同封裝光學應用與挑戰 座談研討會 活動資訊 活動時間 2025年06月20日 (五) 13:30~16:20 活動地點 台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287號C棟 報名洽詢 整合行銷部 (02)2585-5526 mail:imc@ctimes.com.tw 本活動報名踴躍,名額已全數額滿,活動已圓滿結束,感謝您的熱情支持! 查看活動資訊 文章導覽上一篇文章: Enlitech 將出席 HOPV25 國際會議|義大利羅馬 2025.5.12–14下一篇文章: Enlitech 將出席 2025 SEMICON 國際半導體展|台北南港展覽館 2025.9.10–12 發佈留言 取消回覆發佈留言必須填寫的電子郵件地址不會公開。 必填欄位標示為 *留言 * 顯示名稱 電子郵件地址 個人網站網址 在瀏覽器中儲存顯示名稱、電子郵件地址及個人網站網址,以供下次發佈留言時使用。 Δ