描述
描述
規格
應用
裝機紀錄
應用文獻
資源
聯絡我們
描述
因此，我們可以獲得光電元件光電轉換過程的重要參數。 這些參數包括：響應時間、上升/下降時間、線性動態範圍 (LDR)、暫態光電壓 (TPV)、暫態光電流 (TPC) 等。 它用於了解光電元件的內部結構/組成與載子動力學之間的關係。這些資訊可以作為評估光電元件特性和效能改進的參考。
特點
- 光強線性度檢查與分析
- 頻率回應檢查 0~40MHz
- 可選雷射模組系統波長
- 雷射光調變控制
- 截止頻率 (Cut Frequency) 計算分析
- Rise/ Fall time檢查與分析
- TPC/TPV 檢查與分析
- 高動態光強變化光學調變模組，可自動調變強度9個光學量級變化
光焱科技Enlitech 的專家團隊擁有豐富的實驗室經驗和技術知識，能夠在線上或現場指導客戶進行精密測試。例如，透過對噪聲電流頻率圖的詳細分析，Enlitech 幫助客戶識別潛在的測試誤差，優化測試參數，從而提升測試的精確度與再現性。
Enlitech 深知，在光電領域中，精確測試對產品開發和質量控制至關重要。客戶在面對如噪聲電流頻率、量子效率 (EQE)、探測度 (D*) 及噪聲等效功率 (NEP) 等測試時，常常因儀器調校複雜、數據不穩定而感到困惑。針對這些痛點，Enlitech 提供了全面的解決方案。
EQE 和 D* 等指標直接影響光電探測器的靈敏度和性能，這在半導體、通訊及航空航天等高科技領域尤為重要。準確的測試數據不僅能夠幫助客戶提升產品質量，還能降低產品開發週期，節省成本。
Enlitech
We Make Sensors Better.
實證
Cs2Pb(SCN)2Br2 單晶光電器件性能表徵
2021年 Advanced Materials 期刊報導了第一種無機陽離子擬鹵化物二維相鈣鈦礦單晶Cs2Pb(SCN)2Br2。作者使用PD-RS系統對單晶光電器件進行多種的光電轉換回應行為進行檢查與分析。其中包含：
- 變光強 IV 曲線測試
- 變光強光電流與回應度變化測試
- 定電壓下光電轉換爬升與下降時間測試
- 恆定光強脈衝光的時間相關光電流回應測試
- TPC/TPV 瞬態光電流/光電壓測試
恆定光強脈衝光的光電流時間回應
PD-RS 系統具備高速調製能力的雷射器 (爬升/下降時間< 5ns)，在恆定光強脈衝光條件下，可以對器件進行光電流時間回應測試，並且分析光電器件的爬升/下降時間的分析，以瞭解光電器件最快的時間回應極限特徵。
變光強光電流與回應度變化測試 (LDR)
PD-RS 具備 120 dB 光強動態範圍測試能力。在軟體自動化的測試光電流的變化，繪製出待測器件的線性動態範圍響應圖 (LDR, Linearity Dynamic Range)。LDR 試評估光電器件特性的一項重要指標。由光電流與光強的測試可以得到回應度 (mA/W) 變化，是常用於表徵光電器件優劣的參數。
-3 dB 頻率響應測試
PD-RS 具備高速調製能力的雷射器。系統可自動調變輸出光束的調製頻率，並進行光電流的偵測，同時繪製頻率回應圖並分析-3 dB 頻率特性。-3 dB 點指的是當光源調製頻率上升，器件回應跟不上光源的開關變化，出現回應光電流隨之下降的情況，達到 -3 dB 的強度時，作為標記性能的頻率。
TPC/TPV 瞬態光電流/光電壓測試
TPC/TPV 是一種常用於薄膜光電器件的檢查技術，可以研究器件中的載流子傳輸與複合的物理行為。 PD-RS 的光源具備高速的爬升與下降時間 (< 5 ns)，可以進行瞬態光電流 (TPC) 與瞬態光電壓 (TPV) 的測試。
規格
| Model | Wavelength |
|---|---|
| RS-405 | 405 nm |
| RS-633 | 633 nm |
| RS-520 | 520 nm |
| RS-980 | 980 nm |
系統設計
應用
- 有機光感測器 (OPD, Organic Photodiode)
- 鈣鈦礦光感測器 (PPD, Perovskite Photodiode)
- 量子點光感測器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)
- 新一代光電二極體
商品評價
目前沒有評價。