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SG-A 可提供最全面的 CMOS 影像感測器參數量測分析，例如全光譜量子效率 (QE)、整體系統增益 (K)、時間暗雜訊、訊噪比、絕對靈敏度閾值、飽和容量、動態範圍、暗訊號非均勻性 (DSNU)、光響應非均勻性 (PRNU)、線性誤差和主光線角度 (CRA)。
待測元件可以是多種類型的 CMOS 影像感測器模組。檢測程序符合 EMVA 1288 標準。
因此，SG-A CMOS 影像感測器測試儀可用於進行晶圓級光學檢查、工藝參數控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。 SG-A CMOS 影像感測器測試儀的高准直光束 （< 1°） 可以克服傳統光學系統（如積分球系統）無法解決的新製造工藝的檢測難題。
這些製成包括小像素 （< 1 微米）、BSI 和 3D 堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設計等。
特徵
- 無損光學檢測
- 高準直光束角度; <0.05°、 <0.1°、 <0.5°、 <1°、 <3°（不同型號）。
- 高均勻光斑：≥ 99%。
- 光源不穩定度 ≤ 1%。
- 高動態範圍測試能力：80dB~140dB（不同型號）。
- 可測試 CMOS 影像感測器參數：量子效率、光譜響應、系統增益、靈敏度、動態範圍、暗電流/雜訊、訊噪比、飽和容量、線性誤差 (LE)、暗電流非均勻性 (DCNU)、光響應非均勻性 (PRNU)、主光線角度 (CRA)。
- 全光譜波長範圍：300nm-1100nm 或 350nm~1000nm（依型號而定）。
- 波長可擴展至 1700nm 或更長。
- 待測元件封裝：CIS 模組、PCB 板級、CIS 相機，含/不含微透鏡。
- SG-A 與待測元件之間可透過「直接通訊」或「握手通訊」進行資料交換。
- 客製化測試夾具和平台（手動或自動，最多 6 軸）。
- 功能強大的分析軟體 ARGUS®。
- 應用：指紋辨識（CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT 陣列感測器）、CIS 微透鏡設計、晶圓級光學檢測、CIS DSP 晶片演算法開發、矽基 TFT 感測器面板、飛行時間相機感測器、近接感測器（量子效率、靈敏度、線性度、訊噪比等）、d-ToF 感測器、i-ToF 感測器、多光譜感測器、環境光感測器 (ALS)、螢幕下指紋辨識 (FoD) 感測器。
隆重推出 SG-A：革新 CIS 光學測試的利器，全面提升效能
SG-A 採用模組化和整合式設計，提供諸多優勢，可節省寶貴時間並降低試錯成本。對於半導體工程師而言，這種設計方法提供了無與倫比的靈活性和客製化能力，能夠快速識別和解決生產問題。此外，這種設計方法最大程度地降低了製造過程中的風險和不確定性，進而提升效率和產品品質。
模組化和整合式設計由於其可客製化的特性，讓客戶能夠更快地將產品推向市場，可以根據客戶的特定需求和要求快速進行調整和改進。這種能力顯著降低了客戶的研發成本和時間，使他們能夠更快地將客製化產品推向市場，進而提升其市場競爭力。
SG-A 不僅符合 EMVA1288 等國際標準，還符合 ISO 17025 標準，可進行整體系統校正。這確保了測試結果可追溯至國際 SI（國際單位制）基本單位，實現國際間的比對。這為我們尊貴的客戶提供了無與倫比的可靠性和穩定性。
SG-A 能夠對不同製造階段的 CIS（互補式金屬氧化物半導體）產品，包括晶圓、晶片和模組，進行全面的評估和分析。這種先進的光學檢測方法為半導體工程師提供了一種高效且精確的測試方法。它不僅允許在不損壞產品的情況下進行測試，還能深入了解 CIS 產品的效能，促進品質的提升。
此外，光學檢測技術具有高產能、可靠性和效率等多項優勢，為 CIS 產品製造的每個階段提供重要的測試支援。
SG-A 搭配功能強大的分析軟體 ARGUS®，為您提供 CIS 影像感測器效能參數的全面測試能力，讓您能夠探索全光譜量子效率，並研究感測器在不同波長下的響應。這種全面的理解使您能夠優化感測器的效能，確保最佳的靈敏度並捕捉令人驚嘆的影像。
SG-A 和 ARGUS® 的另一個優勢是光譜響應分析。您可以評估感測器對不同波長的響應，從而優化其在特定光照條件和應用中的效能。這種優化可以實現無與倫比的色彩準確度和逼真度。
系統增益評估對於獲得高品質影像和最小化雜訊至關重要。SG-A 和 ARGUS® 可以精確測量和分析感測器的增益特性，使您能夠提升影像品質，尤其是在低光照環境下，獲得更清晰、更生動的影像。
SG-A 和 ARGUS® 提供的靈敏度分析讓您能夠評估感測器捕捉精細細節和光強度變化的能力。透過優化靈敏度，您可以突破影像品質的極限，確保每張照片都具有出色的清晰度和解析度。
動態範圍評估對於捕捉亮度變化很大的場景至關重要。SG-A 和 ARGUS® 使您能夠分析感測器的動態範圍能力，確保在亮部和暗部區域都能保留細節。這種優化可讓您的影像擁有出色的色調範圍和均衡的曝光。
暗雜訊評估對於減少低光照條件下不必要的雜訊和影像偽影至關重要。SG-A 和 ARGUS® 提供詳細的暗雜訊分析，使您能夠優化降噪演算法，即使在具有挑戰性的光照條件下也能獲得清晰、無雜訊的影像。
SG-A 和 ARGUS® 提供的訊噪比 (SNR) 分析讓您能夠透過量化所需訊號與不需要的雜訊之間的比率來評估影像品質。藉由最大化訊噪比，您可以獲得清晰的影像、減少雜訊偽影並提升整體影像逼真度。
飽和容量分析對於了解感測器捕捉和再現極限色彩的能力至關重要。透過 SG-A 和 ARGUS®，您可以評估感測器的飽和容量，確保即使在最具挑戰性的光照條件下也能呈現生動逼真的色彩。
線性誤差 (LE) 評估有助於了解感測器對線性增加的光強度的響應準確性。透過分析和最小化線性誤差，您可以實現一致且準確的曝光，確保以精確的色彩漸變忠實地再現場景。
SG-A 和 ARGUS® 也支援暗電流非均勻性 (DCNU) 和光響應非均勻性 (PRNU) 的評估。這些分析提供了對感測器均勻性的洞察，使您能夠識別和減輕任何非均勻性問題，從而實現更一致和可靠的效能。
此外，SG-A 還可以測量主光線角度 (CRA)，它決定了主光線進入感測器的角度。透過精確評估 CRA，您可以確保最佳的光線收集，大幅提升影像清晰度和品質。
SG-A 和 ARGUS® 為測試和分析 CIS 影像感測器提供全面的解決方案，提供寶貴的數據和洞察，以提升產品效能並實現卓越的影像品質。擁抱這項尖端技術，讓 SG-A 和 ARGUS® 推動您的 CIS 感測器生產更上一層樓。
規格
SG-A CMOS 影像感測器測試儀功能強大，因此相關規格和配件非常齊全。如需更多詳細資訊和選購諮詢，請聯繫我們。
以下為主要功能規格：
– 全光譜波長範圍：300-1100nm 或 350-1000nm （PTC）
– 波長範圍可擴展至 1700nm 或更高。
– 單一波長光源：470nm、530nm、630nm、940nm （±5nm） 或定製
– 動態範圍：80dB、100dB 或 140dB
– 測試夾具：DUT≤ 100mm x 100mm x 30mm（高）[Basic type] 或定製
– 平台：非、手動 3 軸或 6 軸（手動 + 自動）平台（可定製）
系統設計
CMOS Image Sensor (CIS) Testing
SG-A 系統採用優異的光學系統設計，利用非破壞性光學調變技術將數位影像訊號反向轉譯為類比訊號特性。它能夠測量各種參數，例如量子效率、光譜響應、系統增益、動態範圍、暗電流雜訊、訊噪比、飽和容量、線性誤差 (LE)、暗電流非均勻性 (DNU)、光響應非均勻性 (PRNU) 和主光線角度 (CRA)。
測試數據如下：
TFT 影像模組開發與驗證 (FoD)
隨著全螢幕智慧型手機設計成為主流，光學螢幕下指紋辨識也獲得了市場的高度關注。其中，TFT 螢幕下影像辨識模組的開發成為顯示器製造商和顯示驅動晶片開發商激烈競爭的領域。SG-A 採用非破壞性光學檢測技術，無需破壞性樣品製備，即可快速檢測 TFT 影像模組的各種關鍵參數，例如全光譜量子效率測試。這加速了整體產品設計和驗證流程。
應用
| Application | |
|---|---|
| Fingerprint recognition (CIS+Lens, CIS+collimator, TFT-array sensor) | Micro-lens design of CIS, wafer level optics inspection |
| CIS DSP chip algorithm development | Si TFT sensor panel |
| Time-of-Flight camera sensor | Proximity Sensor (Quantum efficiency, sensitivity, linearity, SNR et al.,) |
| d-ToF sensor, i-ToF sensor | Multi-spectral sensor |
| Ambient light sensor (ALS) | Fingerprint-Under-Display (FoD) sensor |
可測試 CMOS 影像感測器參數
| Can test CMOS image sensor parameters | |
|---|---|
| Quantum efficiency | Spatial nonuniformity (DSNU, PRNU) |
| Overall system gain | Linearity error |
| Temporal dark noise | CRA |
| Signal-to–noise ratio | Saturation capacity |
| Absolute sensitivity threshold | Dynamic range |
客戶實證
應用文獻
選配
| Optional | |
|---|---|
| Camera Sample Stage | ●Calibration/Test Manual Adjustment Switch ●Adjustment Precision: 10 μm ●Compatible with Maximum Sample Size: 80 mm x 80 mm x 45 mm (thickness) ●Maximum Load Capacity: 5 kg |
| Automated CRA Testing Module | ●CRA Testing Software ●Maximum Sample Size: 80 mm x 80 mm x 45 mm (thickness) Load Capacity: 3 kg ●Computer-Controlled Rotating Sample Stage ●Rotation Angle Range: ±80 ●Degrees Rotation Resolution: 0.01 degrees ●Automatic XY Axis Displacement Control ●Calibration/Test Position Fast Positioning Switch Displacement ●Distance: ±50 mm Displacement ●Precision: 2 μm Z-Axis ●Displacement Control (Manual Control) ●Displacement Distance: ±6 mm ●Displacement Precision: 10 μm |
| Darkroom | Dimensions: 1000 mm x 900 mm x 1400 mm (with 10% clearance space) |
| Full-Wavelength High Dynamic Range Light Intensity Variation Function | ●Automatic Linear Light Intensity Adjuster ●Continuous Fine Adjustment of Light Intensity ●Light Intensity Control Range: 0-100% ●Scanning Accuracy: 0.1% Repeatability Accuracy: Better than 3% ●Automatic Control |
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