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探索 Enlitech SLX-P 3070 的尖端功能，這款最先進的照明器專為先進 CMOS 感測器開發而設計。
SLX-P 3070 擁有超過 140 dB 的傑出動態範圍，其光束經過精準準直，發散角僅 1 度，為半導體測試樹立了全新標竿。
它能夠進行極低光照測試，是評估感測器在最低光照條件下性能的理想選擇。
這款結構緊湊、方便攜帶的照明器在各種應用中表現出色，例如 CP 和 FT 測試中的參數測試和品質檢測，可有效測量量子效率、整體系統增益、CRA、PDAF 和 HDR 等參數。 無論您從事研發還是品質控管，SLX-P 3070 都是您的完美夥伴，可在各種照明情境下提供準確可靠的結果。
特徵
無可匹敵的動態範圍，成就卓越的感測器測試
SLX-P 3070 專為支援高動態範圍成像而設計，可達到 140 dB 以上。這款照明器能夠處理從 0.01 lux 到超過 100,000 lux 的極端照明條件，是高端 CIS 測試的理想選擇，確保在極低光和極高光場景下都能捕捉到精細的影像。
模擬不同的照明條件
這款照明器可以模擬從星光到明亮日光等各種照明條件，讓您能夠在所有情況下進行全面的感測器測試。
適用於精確 PDAF 測試的準直光束，確保測試結果精準可靠
SLX-P 3070 擁有高度準直的光束，發散角僅 1 度，可提供精準聚焦的光線，非常適合進行精確的 PDAF 測試，確保光電二極體精準對焦，達到最佳性能。
精確的光線控制，確保準確的結果
我們的照明器發散角僅 1 度，可確保光線均勻分佈，提供一致的測試結果。這種精確度對於需要精確光線設置以模擬真實世界條件的應用來說非常重要，尤其是在每一個照度都舉足輕重的參數測試中。
小巧精悍，方便攜帶，用途廣泛
SLX-P 3070 採用精巧便攜的設計，無論是在實驗室還是在現場測試，都能展現高度的靈活性，適用於各種測試環境。
三段式亮度調整，滿足多元測試需求
- 高亮度模式：900 至 1500 照度 (lux)，可精細調整至 5 照度 (lux) 以下，適用於高亮度環境。
- 中等亮度模式：提供 30 至 900 照度 (lux) 的範圍，步進值小於 2 照度 (lux)，適用於標準測試環境。
- 低亮度模式：0 至 30 照度 (lux)，具備 0.1 照度 (lux) 以下的超精細調整功能，適用於低光照環境下的測試。
規格
| Specification | |
|---|---|
| Light Parallelism | Divergence angle of 1° |
| Uniformity light Area | 30 mm x 30 mm ＞90% |
| Color Temperature | 4850K ~ 5500K |
| High Intensity | 900 ~ 1500 Lux Step：< 5 Lux |
| Median Intensity | 30 ~ 900 Lux Step：< 2 Lux |
| Low Intensity | 0 ~ 30 Lux Step：< 0.1 Lux |
| Dimension | 228mm*145mm*173mm |
| Weight | 1.9kg |
系統設計
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應用
Enlitech 新開發的 SPD2200 是世界上第一個用於單光子探測器 （SPD） 的商業級錶徵系統。
它可用於測試和分析單光子雪崩二極體 （SPAD） 的特性，SPAD 是 LiDAR（光檢測和測距）的關鍵元件。 該 SPD2200 滿足客戶在 dToF 模組開發過程中測量各種參數的需求。
SPD2200 有兩個模組：（1） 光譜表徵模組 （SDTM） 和 （2） 時域表徵模組 （TDTM）。 客戶可以選擇為不同的測量場景購買任一模組，也可以同時使用這兩個模組進行全面的表徵。
客戶實證
SDTM、TDTM 表徵模組
（1） SDTM 光譜表徵模組 – 設備規格
| SDTM Spectral Characterization Module – Equipment Specifications | |
|---|---|
| Continuous wave light source | 1.Stable light source system (xenon lamp) 2.Monochromator: 350-1100 nm, resolution 1nm, typical FWHM 10 nm; accuracy 0.6nm 3.Fiber coupling and optical diffuser: 5×5 mm or 10×10 mm beam, uniformity >99% at 25 mm working distance. (with 50 mm x 50 mm illumination spot) |
| Light source and beam delivery system | 1.Ultra-uniform silicon photodiode sensor, 10mm x 10mm active area, optically aged to eliminate instability 2.Wavelength range 350-1100nm, peak responsivity at 960nm 3.Traceable, certified calibration report to NIST (ISO 17025 certified, compliant to Spec 1) 4.Noise equivalent power of 1.5 x 10-14 W/√Hz |
| Source stage | 1.Device biasing and measurement 2.Voltage range: > 200V 3.Current range: 1.5A max. 4.Minimum resolution: 100 nV, 10 fA |
| Photon detector | 1.Resolution: 100 ps 2.Count rate: > 300 MHz 3.Input voltage range: ± 5V |
| Measurable parameters | 1.Photon detection probability over spectrum 2.Dark counts 3.External quantum efficiency over spectrum 4.Breakdown voltage 5.Spectral responsivity over spectrum |
（2） TDTM 時域表徵模組
| TDTM Time Domain Characterization Module | |
|---|---|
| PS Laser | 1.Wavelength 940 nm 2.FWHM <90 ps 3.MAX rep. rate: 80 MHz (adjustable) |
| T-counter | 1.Detection Channel: 4 Chs 2.BIN Resolution: 5 ps 3.Time-tagging and time-resolved modes |
| Measurable Parameters | 1.Jitter 2.Diffusion Tail 3.Signal-to-Noise Ratio |
| controller | ●Industrial Computer ●Screen ●Keyboard and Mouse |
|---|
出版
選購配件
| Optional items | |
|---|---|
| Probe station | 1.Three styles: fully automatic / semi-automatic / manual 2.Suitable for wafer level sample measurement 3.Please contact us |
| Customized test fixture | 1.Suitable for module type sample measurement 2.Please contact us |
| Custom camera obscura | 1.The camera obscura has a noise shielding function 2.Please contact us |
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