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針對Advantest T2000 的特殊設計：超低雜訊且高度穩定的光源
在半導體測試的嚴苛領域中，精確度和可靠性是核心要素，而 Enlitech SLX-P 大面積光源在此領域脫穎而出。
這款光源專為與Advantest T2000 測試系統無縫相容而設計，為滿足產業嚴格標準而量身打造的先進照明技術。
這款高性能光源提供超低雜訊且高度穩定的照明條件，使其成為需要高度一致性的精密光度分析的理想選擇。
SLX-P 大面積測量儀可根據您的特定要求進行定製，從調整光斑大小到調整光強度，均可根據您的特定要求進行定製。
其快速調整功能可在不到 200 毫秒的時間內實現光源更換，有助於加快測試工作流程，而且更能適應現代半導體開發的動態需求。
SLX-P 大面積測量儀具有 160 mm × 160 mm 的堅固均勻光區域和超過 95% 的均勻性，可確保在最佳條件下進行每次測試，從而減少可變性並提高結果的準確性。
Enlitech 的 SLX-P 大面積光源帶您進入測試效率和可靠性的新紀元。歡迎蒞臨我們的網站，獲取更多資訊。
特徵
專為 Adventest T2000 測試機台整合而特別設計的檢測光源
SLX-P 大面積光源專為與 Adventest T2000 測試系統無縫整合而精心設計，作為滿足這些精密設備嚴格要求的專用光源。
這種特殊設計確保了光源與 T2000 的完美互補，以其精確性和效率提升了測試設置。
適用於高靈敏度應用的超低亮度
SLX-P 大面積光源具備獨特的超低亮度輸出能力，這對於需要最小化光照，以防止感測器在測試過程中飽和或損壞的應用來說必不可少。此功能在半導體測試中尤其重要，因為只有精確控制光強度，才能維持敏感元件的完整性並確保測量的準確性。
高穩定性，確保一致和準確的測試結果
SLX-P 大面積光源以高穩定性為設計目標，可在整個測試過程中提供一致的光輸出，確保測試結果準確可靠。
這種穩定性對於維持測試的完整性不可或缺，尤其是在需要精確光度分析的應用中。
可客製化選項，提升使用彈性
SLX-P 大面積光源提供可客製化的選項，例如可調節的光斑尺寸，以滿足客戶的特定需求。
這種靈活性讓使用者能夠根據自身測試需求調整光照條件，為其操作增添顯著價值。
快速光源調整
SLX-P 大面積測量儀的光源調整時間小於 200 毫秒，可以快速適應變化，支援更快、更高效的測試方案。
大均勻光斑
SLX-P 大面積具有 160 毫米× 160 毫米的超大均勻光區域，均勻度超過 95%，非常適合需要廣泛和均勻照明的應用。
規格
| Wavelength | 905 nm±+ 5 nm |
|---|---|
| FWHM | 13-15 nm |
| Full Width at Half Maximum (FWHM) | ＜45nm |
| Light parallelism | Divergence angle of 1° |
| Light intensity | 0 ~ > 15-20 uW/cm2 |
| Uniformity light Area | 160mm × 160mm＞95% |
| Light source adjustment time | <200 ms |
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