描述
描述
可測量參數
應用
裝機紀錄
相關文獻
特性量測模組
選配
聯絡我們
描述
全光譜性能參數測試分析：
- 全光譜光譜響應（SR, Spectral Responsivity）
- 全光譜量子效率（EQE, External Quantum Efficiency）
- 全光譜光子探測率（PDP, Photon Detection Probability）
- 暗計數DCR （Dark Count Rate）
- 崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）
SPAD的單光子雪崩二極體特性參數分析：
- Jitter
- Afterpulsing probability
- Diffusion tail
- 信噪比
SPD2200 整合了先進的光學和電氣系統，結合 OptoFire 在感測器測試和分析方面的豐富經驗，提供全面且使用者友善的軟體控制介面和分析功能。透過使用 SPD2200，您可以節省系統設置的時間和成本，同時降低測試結果的不確定性。這加速了產品開發週期並提升了競爭力。
SPD2200 是一款新穎的單光子探測器特性分析設備，其優勢在於光學和電氣系統的直接整合，使其外形緊湊。它可以快速部署在原始製造商的生產線上，軟體和硬體之間的協同作用有效地降低了 SPAD 開發過程中的研發成本。此外，它還顯著降低了測試結果的不確定性，從而提高了良率。在各家製造商競相開發用於光達應用的 SPAD 晶片的競爭中，SPD2200 已成為重要的研究儀器。
實證
SPAD的暗計數與偏壓關係圖
單光子雪崩二極體 (SPAD) 暗計數與崩潰電壓之間的關係
單光子雪崩二極體 (SPAD) 在不同電壓下的光子探測效率 (PDE) 光譜
SPAD的Jitter測量
SPD2200 整合與研究人員自行組裝的測量設置之間的差異
PhotonFire Technology 的 SPD2200 將所有必要的測量硬體和軟體整合到一個一體化設備中。與研究人員在光學平台上手動組裝測量設置的傳統方法相比，SPD2200 提高了空間利用率。它為高精度測量設備元件提供了更好的保護，從而獲得更準確的測量結果。
透過將所有必需的元件整合到一個整合式設備中，SPD2200 優化了空間利用，並確保了更高效、更精簡的測量過程。這種整合式設計還提高了所進行測量的整體精度。
整合式測量設備
傳統研究人員自行搭建的測量系統
可測量參數
| Measurable Parameters | |
|---|---|
| Spectral Performance Test | Analysis of SPAD Single Photon Discrimination Characteristics |
| Spectral Responsivity(SR) | Timing jitter |
| External Quantum Efficiency(EQE) | Afterpulsing probability |
| Photon Detection Probability(PDP) | Diffusion Tail |
| Dark Count Rate(DCR) | SNR |
| Break-Down Voltage(BDV) |
系統設計
應用
Enlitech 新開發的 SPD2200 是世界上第一個用於單光子探測器 （SPD） 的商業級錶徵系統。
它可用於測試和分析單光子雪崩二極體 （SPAD） 的特性，SPAD 是 LiDAR（光檢測和測距）的關鍵元件。 該 SPD2200 滿足客戶在 dToF 模組開發過程中測量各種參數的需求。
SPD2200 有兩個模組：（1） 光譜表徵模組 （SDTM） 和 （2） 時域表徵模組 （TDTM）。 客戶可以選擇為不同的測量場景購買任一模組，也可以同時使用這兩個模組進行全面的表徵。
客戶實證
SDTM、TDTM 表徵模組
（1） SDTM 光譜表徵模組 – 設備規格
| SDTM Spectral Characterization Module – Equipment Specifications | |
|---|---|
| Continuous wave light source | 1.Stable light source system (xenon lamp) 2.Monochromator: 350-1100 nm, resolution 1nm, typical FWHM 10 nm; accuracy 0.6nm 3.Fiber coupling and optical diffuser: 5×5 mm or 10×10 mm beam, uniformity >99% at 25 mm working distance. (with 50 mm x 50 mm illumination spot) |
| Light source and beam delivery system | 1.Ultra-uniform silicon photodiode sensor, 10mm x 10mm active area, optically aged to eliminate instability 2.Wavelength range 350-1100nm, peak responsivity at 960nm 3.Traceable, certified calibration report to NIST (ISO 17025 certified, compliant to Spec 1) 4.Noise equivalent power of 1.5 x 10-14 W/√Hz |
| Source stage | 1.Device biasing and measurement 2.Voltage range: > 200V 3.Current range: 1.5A max. 4.Minimum resolution: 100 nV, 10 fA |
| Photon detector | 1.Resolution: 100 ps 2.Count rate: > 300 MHz 3.Input voltage range: ± 5V |
| Measurable parameters | 1.Photon detection probability over spectrum 2.Dark counts 3.External quantum efficiency over spectrum 4.Breakdown voltage 5.Spectral responsivity over spectrum |
（2） TDTM 時域表徵模組
| TDTM Time Domain Characterization Module | |
|---|---|
| PS Laser | 1.Wavelength 940 nm 2.FWHM <90 ps 3.MAX rep. rate: 80 MHz (adjustable) |
| T-counter | 1.Detection Channel: 4 Chs 2.BIN Resolution: 5 ps 3.Time-tagging and time-resolved modes |
| Measurable Parameters | 1.Jitter 2.Diffusion Tail 3.Signal-to-Noise Ratio |
| controller | ●Industrial Computer ●Screen ●Keyboard and Mouse |
|---|
相關文獻
選購配件
| Optional items | |
|---|---|
| Probe station | 1.Three styles: fully automatic / semi-automatic / manual 2.Suitable for wafer level sample measurement 3.Please contact us |
| Customized test fixture | 1.Suitable for module type sample measurement 2.Please contact us |
| Custom camera obscura | 1.The camera obscura has a noise shielding function 2.Please contact us |
商品評價
目前沒有評價。