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隨著高效矽基太陽能電池的技術發展，需要能夠分析每種工藝技術的太陽能電池功率損失原因。研發高轉化效率工藝對良率控制至關重要。
提高高效矽基太陽能電池的轉換效率，短路電流密度（Jsc ）、開路電壓（Voc ）和填充因子（FF）是關鍵參數。
了解損失機制正成為近年來的主要研究課題。人們可以從 NREL 效率表上的許多效率突破記錄中意識到這一趨勢。以往相關的損耗分析軟體只能分析 Jsc 或 Voc ，用戶很難全面了解太陽能電池功耗的全貌。
SQ-JVFLA 是全球首款同時分析高效矽基太陽能電池 Jsc- loss、Voc – loss 和 FF-loss 的軟體。不同條件下的分析結果可以同時相互比較。它不僅可以大大縮短用戶的數據處理時間，還可以加快進程開發進度。
特點
- SQ-JVFLA 使用 Shockley- Queisser （SQ）細緻平衡極限理論分析和計算的開路電壓損失。SQ-JVFLA 的分析方法和結果已經被 Science、Nature、Joule 等許多 SCI 期刊認可和採用…等。
- SQ-JVFLA 可以分析新型高效太陽能電池（如 PERC、HJT 和 TOPCon ）的 Jsc 、Voc 和 FF 損耗。
- SQ-JVFLA 可以在同一圖表中同時對不同的製造工藝或條件進行損耗比較。
- 借助 Enlitech QE-R / SS / REPS 系統的檢測數據，SQ-JVFLA 可以更快地計算和分析 Voc 損耗。
Jsc -loss 分析結果的螢幕截圖
Voc -loss 分析結果的螢幕截圖
FF-loss 分析結果的螢幕截圖 - 可同時比較不同工具條件的分析結果
Jsc -loss 比較圖表的螢幕截圖
Voc -loss 比較圖表的螢幕截圖
FF-loss 損耗分析比較圖的螢幕截圖
規格
| Model Name | Item | Specification |
|---|---|---|
| SQ-JVFVLA (Not for individual sale) | Highly Efficient Solar Cell Voltage Loss / Current Loss Analyzing Software | ● SQ-JVFLA using Shockley–Queisser (SQ) detailed balance limit as a theoretical model. ● SQ-JVFLA requires data of PV-EQE, R, IV curve. ● SQ-JVFLA can analyze Jsc-losses: - Metal Shading Loss - ARC Reflectance - Front Surface Escape - Blue Loss - NIR Parasitic Absorb - Base Collection Loss - Non-uniformity Loss ● SQ-JVFLA can analyze Voc-losses: - Thermodynamic loss (E1 loss) - Radiation composite loss (E2 loss ex.: band gap, doping, defects) - Non-radiation loss (E3 loss ex.: metal–semiconductor junction loss, junction loss, etc.) ● SQ-JVFLA can analyze FF-losses: - Absolute FF loss due to Rs - Absolute FF loss due to Rsh - Absolute FF loss due to J02 diode recombination component ● Operating system requirements: - Windows 10 - Processor: i5 (64-bit) or faster processor - RAM：8GB - Disk space: 10GB |
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