QE-RX 太阳能电池效率-损失分析解决方案

NT$100

完整、简单的效率-损失分析解决方案

QE-RX是一款用于高效太阳能电池研发的光伏电池效率损耗分析仪。 自2015年以来,损耗机制是提高PERC、HJT、TOP-Con等高效太阳能电池转换效率的关键信息。 转换效率损失可归因于三个因素,包括短路电流密度 (Jsc)、开路电压 (Voc) 和填充因子 (FF) 损失。 QE-RX不仅可以测量PV-EQE、反射率和PV-IQE数据,还可以结合分析软件SQ-JVFLA分析Jsc、Voc和FF损失。

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    Enlitech 在QE-RX中集成了三种不同的测试功能,并开发了SQ-JVFLA软件,帮助用户使用Shockley-Queisser热极限理论分析三种不同的损耗。 QE-RX 是您提升光伏效率的最佳合作伙伴。

    SPOT-ViEWER(TM)-QE-RX

    Enlitech 推出了 Spot-Viewer,该工具旨在帮助您轻松 准确地定位和观察斑点,无论是在暗室还是光线昏暗的实验室环境中。

    特点

    • 用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接触、双面和 TOP-Con 硅太阳能电池
    • 提供QE(量子效率)、PV-EQE(外量子效率)、IPCE(入射光子-电子转换效率)、SR(光谱响应)、IQE(内量子效率)和反射率的数据。
    • 结构紧凑且高重复性超过99.5%
    • 波长范围:300~1200 nm
    • Jsc 损失分析和报告(使用 SQ-JVFLA 软件)
    • Voc Loss 分析和报告(使用 SQ-JVFLA 软件)
    • FF 损失分析和报告(使用 SQ-JVFLA 软件)
    • 多样化和定制化的样品测试装置
    QE-RX-Feature-2

    小巧精悍,功能多元

    QE-RX将所有光学和机械组件集成在80cm x 80cm x 92cm的主体内,其中包括电信号采集锁定放大器。 QE-RX不仅限于其紧凑的尺寸,还提供了多种测试数据,包括太阳能电池的EQE、光谱响应、反射率和IQE。 小巧机身且多功能是QE-RX的优势

    QE-RX-Feature-3

    功率损耗分析

    QE-RX 结合 SQ-JVFL 软件,可以提供最完整的分析功能,包括Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss、带隙计算。 这些参数是生产良率控制和效率建议的关键因素,使QE-RX成为光伏行业的最佳合作伙伴。

    实证

    规格

    IPCE/ 量子效率测试

    • 用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接触、双面和 TOP-Con 硅太阳能电池
    • 提供QE(量子效率)、PV-EQE(外量子效率)、IPCE(入射光子-电子转换效率)、SR(光谱响应)、IQE(内量子效率)和反射率的数据
    • 结构紧凑且高重复性超过99.5%
    • 波长范围:300~1200 nm
    • 多样化和定制化的样品测试装置。

    系统设计

    Enlitech-QE-RX-System-Design

    应用

    • PERC / HJT/ TOP-Con 光伏太阳能电池效率-损耗分析
    • IEC-60904-8 光谱响应测量
    • IEC-60904-7 失配系数计算
    • IEC-60904-1 MMF 校正
    • 硅太阳能电池加工质量控制
    • 硅太阳能电池带隙测定

    客户实证

    应用文献

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